[发明专利]一种大斜视角SAR的改进Omega-K成像方法有效

专利信息
申请号: 201610141400.3 申请日: 2016-03-11
公开(公告)号: CN105759267B 公开(公告)日: 2019-07-09
发明(设计)人: 朱岱寅;聊蕾;杨鸣冬;石佳宁;左潇丽;李威;许至威 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 朱小兵
地址: 210016 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 斜视 sar 改进 omega 成像 方法
【权利要求书】:

1.一种大斜视角SAR的改进Omega-K成像方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1:获取原始回波数据S;

步骤2:对原始回波数据S先后进行距离向快速傅里叶变换FFT、距离向脉冲压缩、距离向离散傅里叶逆变换IFFT、运动补偿、二维FFT和一致压缩;

步骤3:计算频谱偏移量f′τ,min,修正Stolt插值;

步骤4:对每个数据点进行距离向IFFT,将数据变换到距离多普勒域,得到数据点Sik

步骤5:根据f′τ,min进行线性相位补偿,完成距离向频谱校正,得到数据点S′ik

步骤6:对数据点S′ik进行方位向IFFT,得到最终的成像结果。

2.根据权利要求1所述的大斜视角SAR的改进Omega-K成像方法,其特征在于,步骤1中原始回波数据S的大小为Na×Nr,其中,Na为方位向采样点数,Nr为距离向采样点数。

3.根据权利要求1或2所述的大斜视角SAR的改进Omega-K成像方法,其特征在于,步骤2中经过一致压缩后的数据以二维矩阵的形式存储。

4.根据权利要求2所述的大斜视角SAR的改进Omega-K成像方法,其特征在于,步骤3具体包括以下步骤:

步骤3-1:计算方位向单元的距离频率fτ通过Stolt映射到f′τ轴的最小值,量化取整后存储到f′τ,min中;

步骤3-2:以f′τ,min作为起始值,以为频率间隔,计算每个数据点的距离频率映射f′τ值;

步骤3-3:通过Stolt映射方程,计算每个数据点的f′τ值对应在fτ轴的位置,并计算出插值结果。

5.根据权利要求4所述的大斜视角SAR的改进Omega-K成像方法,其特征在于,步骤3-1中第i个方位向单元的距离频率fτ通过Stolt映射到f′τ轴量化取整后的最小值的计算方法为:

其中,f′τ,min[i]表示第i个方位向单元的f′τ量化取整后的最小值,fτ[0]表示距离频率起始值,fη[i]表示第i个方位向单元的方位向频率,fη为方位向频率,fs表示采样频率,Nr为原始回波数据S的距离向采样点数,f0表示载频频率,c表示光速,Vr表示雷达速度。

6.根据权利要求5所述的大斜视角SAR的改进Omega-K成像方法,其特征在于,步骤3-3中第i个方位向单元的f′τ值对应在fτ轴的位置为:

其中,i为方位向坐标,k为距离向坐标,f′τ,ik表示位置坐标为(i,k)的数据点的距离频率映射在f′τ轴的值,fτ,ik表示f′τ,ik对应在fτ轴的位置。

7.根据权利要求4所述的大斜视角SAR的改进Omega-K成像方法,其特征在于,步骤3-3中采用sinc插值来计算插值结果。

8.根据权利要求6所述的大斜视角SAR的改进Omega-K成像方法,其特征在于,步骤5中线性相位补偿后的数据点为:

其中,f′τ,min[i]表示第i个方位向单元的f′τ量化取整后的最小值,Nr为原始回波数据S的距离向采样点数,m为正整数。

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