[发明专利]一种光学元件反射率测量仪在审
| 申请号: | 201610019827.6 | 申请日: | 2016-01-13 |
| 公开(公告)号: | CN105527252A | 公开(公告)日: | 2016-04-27 |
| 发明(设计)人: | 贾宝申;吕海兵;苗心向;牛龙飞;周国瑞;刘昊;李可欣 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号: | G01N21/55 | 分类号: | G01N21/55 |
| 代理公司: | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人: | 翟长明;韩志英 |
| 地址: | 621999 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 光学 元件 反射率 测量仪 | ||
1.一种光学元件反射率测量仪,其特征在于,包括激光器(1),斩光器(2),样品装卡台 (3),光学标准片(4),光电二极管(5),前置放大器(6),锁相放大器(7)和计算机(8);
所述的激光器(1)输出的连续激光经斩光器(2)调制后变成脉冲激光,脉冲激光直接照 射在放置于样品装卡台(3)上的光学标准片(4),从光学标准片(4)反射的反射脉冲激光被 光电二极管(5)接收并转换为脉冲电压信号,脉冲电压信号依次经过前置放大器(6)和锁相 放大器(7)放大后,输出与反射光强成正比的直流电压信号,直流电压信号传输至计算机 (8)。
2.根据权利要求1所述的光学元件反射率测量仪,其特征在于,所述的激光器(1)输出 的连续激光,功率小于20mW。
3.根据权利要求1所述的光学元件反射率测量仪,其特征在于,所述的脉冲激光的频率 大于1000Hz。
4.根据权利要求1所述的光学元件反射率测量仪,其特征在于,所述的光学标准片(4) 的反射率小于等于4%。
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