[发明专利]傅立叶变换质谱法有效
| 申请号: | 201580062118.X | 申请日: | 2015-10-30 |
| 公开(公告)号: | CN107112192B | 公开(公告)日: | 2019-08-09 |
| 发明(设计)人: | 亚历山大·鲁西诺夫;丁力 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号: | H01J49/00 | 分类号: | H01J49/00;H01J49/38;H01J49/42 |
| 代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 梁海莲;余明伟 |
| 地址: | 日本国京都府*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 傅立叶 变换 质谱法 | ||
1.一种使用质谱仪对离子样品中的一种或多种离子种类进行量化的方法,所述方法包括以下步骤:
获取与所述质谱仪中的离子的运动引起的信号相对应的时域数据集;
通过对其应用非对称窗函数来调整所述数据集,其中所述非对称窗函数被选择成减小吸收模式谱中的负强度波瓣;
产生频域中吸收模式质谱包括对调整后的数据集应用傅里叶变换的步骤;
对于与所述一种或多种离子种类相关联的质谱中的一个或多个峰,确定峰范围;
对于每个确定的峰范围,对各峰范围内的谱数据进行积分,以产生各峰强度值;以及
基于各峰强度值,量化所述一种或多种离子种类中的每一种。
2.如权利要求1所述的方法,其中,所述非对称窗函数被选择成抑制所述时域数据集中相对于较早数据的较晚数据。
3.如权利要求1所述的方法,其中,所述非对称窗函数被选择成最小化所述吸收模式谱中的负侧峰。
4.如权利要求2所述的方法,其中,所述非对称窗函数被选择成最小化所述吸收模式谱中的负侧峰。
5.如权利要求1至4中的任一项所述的方法,其中,所述非对称窗函数包括移位高斯窗函数或移位汉宁窗函数。
6.如权利要求1所述的方法,其中,所述产生吸收模式质谱的步骤包括:使用预定的相位-频率关系对复频谱应用相位校正。
7.如权利要求1或2或3或4或6所述的方法,其中,各个峰范围内的谱数据的所述积分包括:计算各峰范围内的峰面积。
8.如权利要求5所述的方法,其中,各个峰范围内的谱数据的所述积分包括:计算各峰范围内的峰面积。
9.如权利要求1或2或3或4或6所述的方法,其中,峰范围被定义成在谱的谱曲线的两个第一过零点之间,所述两个第一过零点的每一个位于各峰的各自侧上。
10.如权利要求5所述的方法,其中,峰范围被定义成在谱的谱曲线的两个第一过零点之间,所述两个第一过零点的每一个位于各峰的各自侧上。
11.如权利要求7所述的方法,其中,峰范围被定义成在谱的谱曲线的两个第一过零点之间,所述两个第一过零点的每一个位于各峰的各自侧上。
12.如权利要求8所述的方法,其中,峰范围被定义成在谱的谱曲线的两个第一过零点之间,所述两个第一过零点的每一个位于各峰的各自侧上。
13.如权利要求1或2或3或4或6所述的方法,进一步包括应用校准函数来校正每个已产生的峰强度值的步骤,并且其中,所述量化所述一种或多种离子种类中的每一种的步骤在校正后的强度值基础上执行。
14.如权利要求5所述的方法,进一步包括应用校准函数来校正每个已产生的峰强度值的步骤,并且其中,所述量化所述一种或多种离子种类中的每一种的步骤在校正后的强度值基础上执行。
15.如权利要求7所述的方法,进一步包括应用校准函数来校正每个已产生的峰强度值的步骤,并且其中,所述量化所述一种或多种离子种类中的每一种的步骤在校正后的强度值基础上执行。
16.如权利要求8所述的方法,进一步包括应用校准函数来校正每个已产生的峰强度值的步骤,并且其中,所述量化所述一种或多种离子种类中的每一种的步骤在校正后的强度值基础上执行。
17.如权利要求9所述的方法,进一步包括应用校准函数来校正每个已产生的峰强度值的步骤,并且其中,所述量化所述一种或多种离子种类中的每一种的步骤在校正后的强度值基础上执行。
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