[发明专利]用于在电子系统中进行多接口调试的方法和装置

说明书

公开了用于在电子系统中进行多接口调试的嵌入式通用串行总线(USB)调试块(EUD)。电子系统包含要求大量测试和调试来确保良好的质量和性能的复杂集成电路(IC)。在示例性方面，在电子系统中提供了EUD。EUD配置成向电子系统中的多个内部调试接口发送控制信息和/或从电子系统中的多个内部调试接口收集调试信息。EUD还配置成将调试信息转换成USB格式，从而调试信息能够通过由电子系统提供的USB接口而被外部访问。EUD可以提供电子系统的非侵入性监视。当EUD被启用时，电子系统能够将USB端口用于任务模式中的通信。附加地，电子系统在EUD持续工作时能够在功率节省模式期间开启或关闭所有系统时钟。

优先权要求

本申请要求于2014年10月30日提交的题为“EMBEDDED UNIVERSAL SERIAL BUS(USB)DEBUG(EUD)FOR MULTI-INTERFACED DEBUGGING IN ELECTRONIC SYSTEMS(用于在电子系统中进行多接口调试的嵌入式通用串行总线(USB)调试块(EUD))”的美国专利申请S/N14/527,873的优先权，该申请通过援引全部纳入于此。

背景

I.公开领域

本公开的技术一般涉及调试电子系统。

II.背景技术

移动计算设备在当代社会已变得普遍。移动计算设备的流行可归因于在此类计算设备内启用的许多功能。已经设计并制造出日益复杂的集成电路(IC)以提供移动计算设备内日益强大的功能性。在一些情况中，移动计算设备的整个系统被集成到称之为片上系统(SOC)的单个IC中。在一些其他情况中，移动计算设备的整个系统由封装到称之为系统级封装(SIP)的集成模块中多个IC支持。

IC和移动计算设备在它们各自的研发生命周期的不同阶段期间被反复测试和调试，以致力于在向消费者发布移动计算设备之前检测并消除潜在的差错。测试是用于在特定条件下检测疑似差错的过程，而调试是用来调查疑似差错的确切起因的过程。实际的调试办法涉及分析在各种测试条件下从被测试设备(DUT)获得的执行日志。在调试移动计算设备以及其内诸IC的情况中，经常采用已制定的调试方法体系和工具，诸如联合测试动作组(JTAG)录入、串行有线调试(SWD)、系统迹线，以及通用异步接收机/发射机(UART)录入。这些调试方法体系中的每一者都被专门设计以在特定条件下从DUT中的特定电路、组件和/或功能块捕捉执行日志。

随着移动计算设备的复杂度持续增加且IC的大小持续减小，测试和调试正变得越来越繁琐和耗时。相应地，移动计算设备的设计者和研发者要求有更好的测试和调试工具。

公开概述

详细描述中公开的诸方面包括用于在电子系统中进行多接口调试的嵌入式通用串行总线(USB)调试块(EUD)。电子系统(诸如移动计算设备)包含要求大量测试和调试来确保良好的质量和性能的复杂集成电路(IC)。在示例性方面，在电子系统中提供了EUD。EUD配置成向电子系统中的多个内部调试接口(例如，联合测试动作组(JTAG)、串行有线调试(SWD)、系统迹线、通用异步接收机/发射机(UART)等)提供控制信息和/或从电子系统中的多个内部调试接口收集调试信息。EUD将调试信息转换成USB格式，从而调试信息能够通过由电子系统提供的USB接口而被外部访问。EUD的一示例性属性是其能够提供电子系统的非侵入性监视。在EUD被启用时,电子系统仍然能够将USB端口用于任务模式中的通信。此外，电子系统在EUD持续工作时仍旧能够开启或关闭所有系统时钟并转换到功率节省模式或转换自功率节省模式。通过在电子系统中提供EUD来使得多接口调试信息通过USB接口能被外部访问，而不影响电子系统的正常行为，测试和调试可以更简单且更高效地完成而无需来自电子系统的多个连接接口。