[发明专利]用于在电子系统中进行多接口调试的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201580058555.4 申请日: 2015-10-05
公开(公告)号: CN107077409B 公开(公告)日: 2021-01-15
发明(设计)人: T·B·兰博尔;D·E·艾利斯;S·沙赫鲁尼亚;V·K·K·翁 申请(专利权)人: 高通股份有限公司
主分类号: G06F11/267 分类号: G06F11/267
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 袁逸;陈炜
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 电子 系统 进行 接口 调试 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种电子系统中的嵌入式通用串行总线USB调试块EUD,包括:

USB集线器,其包括:

耦合到所述电子系统中的USB物理层PHY的至少一个上行流接口;以及

通信地耦合到所述至少一个上行流接口的多个下行流接口;以及

耦合到所述多个下行流接口的多个调试外围设备,其中每个调试外围设备配置成在多个下行流接口中的一者上与所述USB集线器交换USB格式的数据分组;

其中所述多个调试外围设备中的调试外围设备通信地耦合到所述电子系统中的配置成收集多个调试信息类型的调试信息的多个调试功能中的至少一个调试功能以基于所述多个调试信息类型中受支持的调试信息类型来从所述至少一个调试功能接收所述调试信息;

其中所述调试外围设备进一步配置成将从所述至少一个调试功能接收到的所述调试信息从所述受支持的调试信息类型转换成所述USB格式的数据分组以提供给所述USB集线器;以及

其中所述USB集线器配置成在所述至少一个上行流接口上向所述USB PHY提供所述USB格式的数据分组;以及

其中所述EUD包括配置成启用所述电子系统的调试模式的旁路开关,所述旁路开关包括:

耦合到所述至少一个上行流接口和所述USB PHY的第一旁路开关;以及

耦合到所述电子系统中的USB控制器和所述多个下行流接口中的一者的第二旁路开关。

2.如权利要求1所述的EUD,其特征在于,进一步包括:

耦合到所述USB PHY的EUD电源,其中所述EUD电源配置成向所述EUD提供操作功率;以及

耦合到所述USB PHY的EUD振荡器,其中所述EUD振荡器配置成向所述EUD提供操作时钟。

3.如权利要求1所述的EUD,其特征在于,进一步包括耦合到所述USB PHY的EUD电源,其中所述EUD电源配置成独立于所述电子系统中的数字电源电压是否被设置成非操作电平而向所述EUD提供操作功率。

4.如权利要求1所述的EUD,其特征在于,进一步包括耦合到所述USB PHY的EUD振荡器,其中所述EUD振荡器配置成独立于所述电子系统中的其他系统时钟是否被关闭而向所述EUD提供操作时钟。

5.如权利要求1所述的EUD,其特征在于,进一步包括断连开关,所述断连开关配置成通过保持所述断连开关断开而将所述USB控制器从所述USB集线器脱离。

6.如权利要求1所述的EUD,其特征在于,进一步包括断连开关,所述断连开关配置成通过保持所述断连开关闭合而将所述USB控制器附连到所述USB集线器。

7.如权利要求1所述的EUD,其特征在于,进一步包括配置成通过将所述USB PHY直接连接到所述USB控制器而启用所述电子系统的任务模式的旁路开关。

8.如权利要求7所述的EUD,其特征在于,所述旁路开关包括:

耦合到所述USB PHY并从所述至少一个上行流接口解耦的第一旁路开关;以及

耦合到所述电子系统中的所述USB控制器以及所述第一旁路开关的第二旁路开关。

9.如权利要求1所述的EUD,其特征在于,所述调试外围设备耦合到所述电子系统中的联合测试动作组JTAG调试功能并配置成与相应的JTAG调试功能发送或接收JTAG调试信息。

10.如权利要求1所述的EUD,其特征在于,所述调试外围设备耦合到所述电子系统中的串行导线调试SWD调试功能并配置成与相应的SWD调试功能发送或接收SWD调试信息。

11.如权利要求1所述的EUD,其特征在于,所述调试外围设备耦合到所述电子系统中的系统迹线调试功能并配置成与相应的系统迹线调试功能发送或接收系统迹线调试信息。

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