[发明专利]分切加工装置以及分切加工方法在审
| 申请号: | 201580035025.8 | 申请日: | 2015-06-25 |
| 公开(公告)号: | CN106662533A | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
| 发明(设计)人: | 陈廷槐;西原伸彦 | 申请(专利权)人: | 住友化学株式会社 |
| 主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84;G01B11/00;G01M11/00;G02B5/30;G02F1/13;G02F1/13363 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 刘文海 |
| 地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 加工 装置 以及 方法 | ||
技术领域
本发明涉及分切加工装置以及分切加工方法。
本申请基于2014年6月30日在日本申请的日本特愿2014-134629号而主张优先权,将其内容引用于此。
背景技术
作为显示立体图像的方式,已知被称作FPR(Film Patterned Retarder)方式的方式。在FPR方式的3D液晶显示器中,为了将右眼用图像与左眼用图像分离,在液晶面板的表面配置有被称作FPR膜的图案化相位差膜(参照专利文献1)。
FPR膜包括右眼用偏振图案列和左眼用偏振图案列。右眼用偏振图案列以及左眼用偏振图案列与液晶面板的右眼用像素列以及左眼用像素列对应而交替配置。右眼用偏振图案列和左眼用偏振图案列的慢轴的方向彼此正交。有时在配置有右眼用偏振图案列和左眼用偏振图案列的有效区域的外侧配置对准用的偏振图案列。
在先技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2012-32445号公报
发明内容
发明所要解决的课题
在FPR膜上以微细的宽度形成有多个偏振图案列。因此,在将FPR膜切断为规定的宽度或形状、将FPR膜贴合于液晶面板时,必须准确地检测偏振图案列的位置,并基于该位置对FPR膜进行对准。
例如,专利文献1记载了从FPR膜的下表面侧照射光并利用相机从FPR膜的上表面侧进行拍摄的装置来作为偏振图案列的检测装置。
在FPR膜与光源之间配置有偏振板,在FPR膜与相机之间从FPR膜侧起依次配置有相位差板(1/4波长板)及偏振板。右眼用偏振图案列和左眼用偏振图案列沿着膜的长度方向延伸。伴随着FPR膜的卷出以及输送而连续地检测这些偏振图案列。
然而,在专利文献1的结构中,由于在FPR膜的下表面侧设置光源,因此无法在FPR膜的下表面侧配置支承体。因而,必须在FPR膜不被支承体支承的不稳定的位置进行偏振图案列的检测。也考虑在支承体设置贯通孔,但仅凭借穿过贯通孔的光则无法充分地对FPR膜进行照明。
另外,在FPR膜的最表面设置有防护膜、分隔膜等保护膜。保护膜具有双折射性,会产生意外的相位差。若不存在保护膜,则右眼用偏振图案列和左眼用偏振图案列显示为明图案和暗图案,但若存在保护膜,则明图案与暗图案的对比度降低,无法明确地区别两者。因此,在进行光学测定之前,需要花费对保护膜进行剥离等的工夫。
另外,FPR膜贴合于液晶面板的显示面侧的偏振板的表面,但最近也在研究将通过偏振板和FPR膜一体化而成的偏振板一体型的FPR膜贴合于液晶面板的表面的结构。在该结构中,由于偏振板的面内的光学轴的偏差,上述的明图案与暗图案的对比度进一步降低,更加难以区别两者。
本发明的目的在于,提供能够高精度地检测偏振图案列而进行分切加工的分切加工装置以及分切加工方法。
用于解决课题的方案
本发明的第一技术方案的分切加工装置对从第一面侧朝向第二面侧依次设置有相位差层、偏振片层、以及包括慢轴的方向彼此不同的多个偏振图案列的图案化相位差层而成的长条状的光学膜进行分切加工,所述分切加工装置的特征在于,包括:膜供给部,其将所述光学膜沿着该光学膜的长度方向放出;第一检测装置,其检测由所述膜供给部放出的所述光学膜的所述多个偏振图案列;第一蛇行控制部,其基于由所述第一检测装置检测出的所述多个偏振图案列的位置来控制所述光学膜的宽度方向上的蛇行;以及切断部,其在比由所述第一蛇行控制部对所述光学膜的宽度方向上的蛇行进行控制的位置靠下游侧的位置处,将所述光学膜沿着与该光学膜的输送方向平行的分切线切断,所述第一检测装置包括:第一支承体,其具有对所述光学膜的所述第一面进行支承的第一支承面,在所述第一支承面内的至少一部分具有第一反射面,该第一反射面使从所述第二面侧向所述第一面侧透过所述光学膜后的光反射;第一光源部,其从所述光学膜的所述第二面侧朝向位于所述第一反射面上的所述光学膜照射光;第一偏振板,其设置于从所述第一光源部朝向所述光学膜的所述光的光路上;第一摄像部,其从所述光学膜的所述第二面侧拍摄位于所述第一反射面上的所述光学膜的反射光像;以及第一图案检测部,其基于由所述第一摄像部拍摄到的所述光学膜的所述反射光像来检测位于所述第一反射面上的所述多个偏振图案列。
在本发明的第一技术方案的分切加工装置中,可以是,所述第一检测装置包括对所述第一偏振板的偏振轴与所述偏振图案列的慢轴的相对角度进行调整的第一调整部。
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