[发明专利]粒子追踪分析方法和用于检测及特征化纳米级粒子的装置有效
| 申请号： | 201580020968.3 | 申请日： | 2015-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN106233120B | 公开（公告）日： | 2019-04-19 |
| 发明（设计）人： | 哈诺·法其米格;玛格丽特·布克 | 申请（专利权）人： | 梅特里克斯微粒有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 邓斐 |
| 地址： | 德国梅*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 散射 辅助 粒子 追踪 分析 pta 方法 用于 检测 特征 所有 类型 液体 纳米 装置 | ||
【权利要求书】：
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