[发明专利]具有孔径相关的共聚焦显微镜

权利要求书

1.一种共聚焦显微镜，包括：

照明装置，用于照亮样品；

转盘单元，包括可旋转的孔挡板，所述孔挡板具有任选地开放的第一部和用于对所述照明进行编码的结构化的第二部孔挡板；

图像捕获单元，用于通过所述孔挡板或解码器挡板来检测第一图像(02)和/或第二图像(03)，所述第一图像分配给所述第一部，所述第二图像分配给所述第二部；

可垂直地位移的载物台和/或可垂直位移的调焦控制器，其具有用于对所述载物台和/或所述调焦控制器的垂直位置(z1…z7)进行检测的位置检测装置；和

图像处理器，通过计算被分配给所述第一部和所述第二部的所述第一图像和所述第二图像(02、03)而生成共聚焦图像(05)；

其特征在于，

所述第一图像和所述第二图像(02、03)利用它们的相关的垂直位置(z1…z7)各自被暂时地存储于所述图像捕获单元中；和

为了在所述图像处理器中生成被置于载物台上的样品的共聚焦图像(05)，对两个第一图像(02)或两个第二图像(03)进行插值从而产生中间图像(06或08)，并且对其用基于其垂直位置(z1…z7)的所述第二图像(03)或第一图像(02)进行计算，从而生成共聚焦图像(05)。

2.一种利用相关的转盘显微法来确定样品形貌的方法，所述方法包括以下步骤：

在交替检测置于载物台上的样品的第一图像和第二图像期间，使载物台和/或调焦控制器垂直地移动，其中用于各图像的垂直焦点位置以元数据的形式进行存储；

对两个第一图像或两个第二图像进行插值从而产生中间图像；

通过在规定的垂直位置的所述中间图像与所述第二图像或第一图像之间的计算，而生成所述规定的垂直位置的共聚焦图像。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，基于多于两个的共聚焦图像而确定所述样品的形貌。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述形貌是由多于两个的共聚焦图像的堆栈构成。

5.如权利要求2所述的方法，其特征在于，为了在规定的焦点位置的所述中间图像的所述插值，使用与所述规定的焦点位置相邻的焦点位置的两个第一图像或两个第二图像。

6.如权利要求2所述的方法，其特征在于，第一图像和第二图像的检测是在独立的存储部中进行。

7.如权利要求2所述的方法，其特征在于，利用所述载物台接近预定的垂直焦点位置。

8.如权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述图像捕获期间使所述载物台连续地移动，并且利用位置检测装置对属于各图像的焦点位置进行检测。

9.一种用于在共聚焦显微镜的图像处理器中执行的数据处理程序，其特征在于，其包括用于执行如权利要求2至8中任一项所述方法的编码程序命令。

10.如权利要求9所述的数据处理程序，其特征在于，其包括与所述共聚焦显微镜的控制单元的通信接口，以便读出或控制焦点位置。