[实用新型]一种光伏组件用光强均匀性测试装置有效

专利信息
申请号: 201520987127.7 申请日: 2015-12-02
公开(公告)号: CN205320031U 公开(公告)日: 2016-06-15
发明(设计)人: 张龙龙;张昌远 申请(专利权)人: 连云港神舟新能源有限公司
主分类号: H02S50/15 分类号: H02S50/15
代理公司: 南京众联专利代理有限公司 32206 代理人: 顾进
地址: 222100 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 组件 用光 均匀 测试 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型属于光伏组件测试仪器技术领域,具体涉及到一种光伏组件用光强均匀性测试装置。

背景技术

室内太阳模拟器是用来模拟太阳光的设备,在光伏领域里结合电子负载、数据采集和计算机等设备,可以用来测试光伏器件包括太阳电池片,太阳电池组件的电性能,如最大功率、短路电流、开路电压等电学特性,这些参数不但能够从一定程度上反映出电池或组件的特性,也关系到电池或组件最后出厂的等级和价格,因此,一台可靠的太阳模拟器,不仅对生产工艺有参考意义,更关系到产品的品质和制造厂商的利润和信誉,光强均匀度、光谱失配度以及辐照稳定度三个指标是衡量一台太阳模拟器性能等级的主要参数,其中光强均匀度是自然光源或者模拟光源在一定的辐照面积内光强分布的均匀度,是衡量光源性能的重要参数,此参数出现偏差会直接影响厂家组件出厂功率的标定。

现有的光强均匀度测试装置只能测量固定位置的光强均匀度,测试位置不够灵活;设备装置较为繁琐笨重,不适用于户外光强均匀性的测试;在室内模拟测试时,现有的太阳模拟器只能满足单面打光,难以实现待测组件前后两面不同位置光照强度及均匀性的测量。

发明内容

为解决上述问题,本实用新型公开了一种光伏组件用光强均匀性测试装置,可以准确地实现室内模拟环境与户外组件阵列不同反射条件下组件前后两面不同位置辐照强度及均匀性的测量,能有效地解决现有装置测试位置单一固定的缺点,操作简单且便于携带。

为达到上述目的,本实用新型的技术方案如下:

一种光伏组件用光强均匀性测试装置,其特征在于:包括光强接收装置、太阳能组件与数据处理装置,所述光强接收装置包括至少1个独立的单片太阳电池组件以及与其串联的取样电阻,单片太阳电池组件通过背面磁铁吸附在太阳能组件表面,所述数据处理装置包括数据采集器及显示仪,所述数据采集器与取样电阻的两端连接。

作为本实用新型的一种改进,所述磁铁为薄片形状的强磁铁。

作为本实用新型的一种改进,所述太阳能组件为单玻组件时,单片太阳电池组件的数量为1个,通过背面磁铁吸附在单玻组件前表面。

作为本实用新型的一种改进,所述太阳能组件为双玻组件时,单片太阳电池组件的数量为2个,通过背面磁铁吸附在双玻组件正反面对称设置。

作为本实用新型的一种改进,所述显示仪为数字电压表或数字电流表。

本实用新型的有益效果是:

本实用新型所述的一种光伏组件用光强均匀性测试装置,依靠磁铁的磁场吸引力,光强接受装置可放置在待测组件的任意位置,可以有效地解决现有辐照均匀度测试装置位置单一固定的缺点,同时,测试装置由单片电池组件、取样电阻、数据采集器以及精密数字显示仪构成,装置操作简单且便于携带,测试方式为固定光线接收装置进行多次重复测量,避免了现有测试装置中存在的电池特性差异对测量结果带来的误差,可以准确地实现室内模拟环境与户外组件阵列组件正面光强均匀性测量,特别是可以实现不同反射条件下双玻双面发电组件前后两面光强均匀性的测量与标定,适用性强。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

图2为本实用新型所述的单玻组件使用状态图。

图3为本实用新型所述的双玻组件使用状态图。

附图标记列表:

1、太阳能组件,2、单片太阳电池组件,3、取样电阻,4、数据采集器,5、显示仪,6、磁铁,7、单玻组件,8、双玻组件。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式,进一步阐明本实用新型,应理解下述具体实施方式仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围。需要说明的是,下面描述中使用的词语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附图中的方向,词语“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。

实施例1

一种光伏组件用光强均匀性测试装置,包括光强接收装置、太阳能组件1与数据处理装置,所述光强接收装置包括至少1个独立的单片太阳电池组件2以及与其串联的取样电阻3,单片太阳电池组件通过背面薄片形状的强磁铁6吸附在太阳能组件前表面,所述数据处理装置包括数据采集器4(DAQ)及显示仪5,所述数据采集器4与取样电阻3的两端连接,当有光照时,光生电流经过取样电阻3后其两端电压值被数据采集器(DAQ)4采集处理后显示在数字电压表中,同一位置重复测试可以确定光源的辐照稳定性;移动光强测试装置至组件任意位置多次测量可以确定光源的光强均匀性。

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