[实用新型]垂直度测量仪器有效

专利信息
申请号: 201520971529.8 申请日: 2015-11-27
公开(公告)号: CN205228425U 公开(公告)日: 2016-05-11
发明(设计)人: 贠宾宾;何仕荣 申请(专利权)人: 嘉兴本拓精密部件制造有限公司
主分类号: G01B21/22 分类号: G01B21/22;G01B21/30
代理公司: 上海金盛协力知识产权代理有限公司 31242 代理人: 王松
地址: 314515 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 垂直 测量 仪器
【权利要求书】:

1.一种垂直度测量仪器,其特征在于,所述测量仪器包括:基座、支架、至少 两列探针、与探针数量对应的表盘、处理器、显示单元;

所述支架设置于基座上,与基座呈直角;各个探针设置于支架上,形成 直线安装,各个探针主体均与基座平行;

各个探针上分别设有表盘,表盘设置于探针的一端,各个表盘在基座平 面的投影相互重合;各表盘分别连接处理器,处理器连接显示单元。

2.一种垂直度测量仪器,其特征在于,所述测量仪器包括:基座、支架、至少 两个探测机构;所述支架与基座连接;各个探测机构设置于支架上。

3.根据权利要求2所述的垂直度测量仪器,其特征在于:

所述测量仪器包括至少两列探测机构,每列探测机构至少包括两个探测 机构。

4.根据权利要求2所述的垂直度测量仪器,其特征在于:

所述支架设置于基座上,与基座呈直角。

5.根据权利要求2所述的垂直度测量仪器,其特征在于:

所述探测机构包括探针、表盘;表盘设置于探针的一端。

6.根据权利要求5所述的垂直度测量仪器,其特征在于:

各个探针形成直线安装,各个探针的主体均与基座平行。

7.根据权利要求2所述的垂直度测量仪器,其特征在于:

各个表盘在基座平面的投影相互重合。

8.根据权利要求2所述的垂直度测量仪器,其特征在于:

所述测量仪器还包括处理器、显示单元,各表盘分别连接处理器,处理 器连接显示单元。

9.根据权利要求2所述的垂直度测量仪器,其特征在于:

所述探测机构设置于支架的一侧,或者,各个探测机构分别设置于支架 的两侧。

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