[实用新型]显示面板闪烁度测试装置有效
| 申请号: | 201520776535.8 | 申请日: | 2015-10-09 |
| 公开(公告)号: | CN205140484U | 公开(公告)日: | 2016-04-06 |
| 发明(设计)人: | 常琳;周永超;张春宇 | 申请(专利权)人: | 昆山龙腾光电有限公司 |
| 主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00;G02F1/13 |
| 代理公司: | 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 | 代理人: | 王春丽 |
| 地址: | 215301 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 显示 面板 闪烁 测试 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及显示技术领域,特别涉及一种显示面板闪烁度测试装置。
背景技术
液晶显示面板在出厂前,需要进行各种硬件性能及软件性能的测试,以保证输出的液晶显示面板具有较高的品质。面内均一性作为液晶显示面板的一种固有属性,是衡量液晶显示面板好坏的重要指标,通常使用面板多个位置在闪烁(Flicker)最小时的公共电压这一参数来描述面板的均一性。面板不同位置处最佳公共电压差值越小,表示面板的均一性越好。公共电压是液晶显示面板公共电极上的电压,由液晶的特性及液晶面板的工作原理决定,在液晶显示面板的使用过程中,由于公共电压的极性切换会导致液晶显示面板出现闪烁现象,而闪烁现象严重时,不仅严重影响了液晶面板的显示效果,而且还会造成观察者的视觉疲劳及其它不适,而通过测试液晶显示面板不同位置的闪烁度可以得到不同位置处的最佳公共电压,再根据得到的最佳公共电压可以将液晶显示面板的闪烁度调整至最小或建议给出液晶显示面板的最佳公共电压,从而使液晶显示面板的显示效果达到最好,提高观看效果。因此,如何准确、高效地测试液晶显示面板在不同公共电压下的闪烁度是十分重要的。
现有的显示面板闪烁度测试装置大都是采用人工测试方式,其具体方法是:人工将所需测试的不同位置处的公共电压提供给液晶显示面板,并且在每一个公共电压驱动下依次测试每一位置的闪烁值,人工进行记录闪烁值并进行相关分析。上述人工测试方法,存在因人工经验和熟练程度等个体差异,难免会造成数据记录不准确,造成在公共电压下闪烁度测试的准确度较低。并且在测试过程中液晶显示面板数量会比较多,还需要长时间记录液晶显示面板公共电压下的闪烁度,耗费大量的人力、物力和时间,测试效率很低。
实用新型内容
本实用新型提供一种显示面板闪烁度测试装置,操作简单、准确度高、并能够极大地提高效率。
所述技术方案如下:
本实用新型实施例提供了一种显示面板闪烁度测试装置,其包括:设置于液晶显示面板的每个测试位置处,所述液晶显示面板在每一个公共电压驱动下,用于采集所述液晶显示面板每个测试位置处的亮度信号,并将所采集的所有公共电压下每个测试位置处的亮度信号转换为模拟电信号的采集单元;与所述液晶显示面板、所述采集单元相连,用于将所述模拟电信号转换为数字信号,并根据所述数字信号依次计算出在所有公共电压下每个测试位置处的所有闪烁度,以得到每个测试位置处所有公共电压与所有闪烁度之间的关系的处理单元;与所述处理单元相连,用于根据每个测试位置处所有公共电压与所有闪烁度之间的关系,输出控制结果的控制单元。
在本实用新型较佳的实施例中,所述模拟电信号为模拟电压信号。
在本实用新型较佳的实施例中,所述采集单元为光电二极管,所述处理单元为ARM处理器或MCU,所述控制单元为上位机。
在本实用新型较佳的实施例中,还包括:用于在所述液晶显示面板上设置多个测试位置的设置模块。
在本实用新型较佳的实施例中,所述测试位置至少包括所述液晶显示面板中心区域的测试位置和所述液晶显示面板周边区域的测试位置。
在本实用新型较佳的实施例中,所述设置模块还包括:用于设置9个测试位置,且其中5个测试位置分别位于所述液晶显示面板的四个角落区域和一个中心区域,另外4个测试位置分别位于所述液晶显示面板相邻的每两个角落区域测试位置的中间位置的第一设置模块。
在本实用新型较佳的实施例中,所述处理单元还包括:用于提供每一个公共电压给所述液晶显示面板,并在提供公共电压给所述液晶显示面板后,将所述液晶显示面板所显示的画面切换到测试画面的提供单元。
本实用新型实施例提供的技术方案带来的有益效果是:
通过液晶显示面板在每一个公共电压驱动下,采集单元采集液晶显示面板每个测试位置处的亮度信号,并将所采集的所有公共电压下每个测试位置处的亮度信号转换为模拟电信号,处理单元将模拟电信号转换为数字信号,并根据数字信号依次计算出在所有公共电压下每个测试位置处的所有闪烁度,以得到每个测试位置处所有公共电压与所有闪烁度之间的关系;控制单元根据每个测试位置处所有公共电压与所有闪烁度之间的关系,输出控制结果。本实用新型实施例避免了手动测试所带来的误差,使得计算更加准确,操作简单,成本较低,并且提高了公共电压下闪烁度的测试效率。
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