[实用新型]一种高速USB接口测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试装置，更具体地说，涉及一种高速USB接口测试装置。

背景技术

在以计算机为中心的测试系统中，USB在通信电子技术领域中已被广泛地使用，常用的USB接口速度测试的装置大多针对于USB2.0标准的测试，测试速率大多停留在200M以内，能够测试设备是否连接、数据传输速率及装置的带载电压等参数。同时大多的测试装置和测试方法都采用和PC相连接的方式进行测试，不宜进行携带。随着USB3.0技术标准的普及，数字信号的传输速率不断加快，通常的USB3接口包括电源和GND，通用USB2.0接口差分信号D+和D-，同时增加了USB3特有的超速数字信号对，标准的传输速率达到1Gb/s以上，目前市场急需一种能够满足高速数据传输信号的测试装置，同时，该测试装置应该具有能够同时测定USB接口带载能力及数据传输的误码率等功能。

发明内容

为了克服现有技术中存在的不足，本实用新型目的是提供一种高速USB接口测试装置。该测试装置携带方便、显示结果直接、可进行USB3.0接口速度测试、带载能力测试、短路测试及高速传输过程中的误码率测试。

为了实现上述发明目的，解决已有技术中所存在的问题，本实用新型采取的技术方案是：一种高速USB接口测试装置，包括电源输入控制模块、带载能力取样测试单元、MCU控制单元、USB信号数据检测单元、可编程逻辑控制单元、EEPROM、LED显示电路及第一、二晶振电路，所述电源输入控制模块与带载能力取样测试单元相连，所述带载能力取样测试单元通过I²C口与MCU控制单元相连，所述USB信号数据检测单元与可编程逻辑控制单元相连，所述可编程逻辑控制单元与第一晶振电路相连，所述EEPROM通过RA2、RA3口与MCU控制单 元相连，所述第二晶振电路通过OSC1/OSC2口与MCU控制单元相连，所述LED显示电路、可编程逻辑控制单元分别通过I/O口与MCU控制单元相连。

所述USB信号数据检测单元，包括第一、二、三、四USB信号输入接口电路，第一、二、三、四ESD保护电路及第一、二USB338模块，所述第一USB338模块，包括第一、二USB信号接收电路及第一USB信号控制单元；所述第二USB338模块，包括第三、四USB信号接收电路及第二USB信号控制单元；所述第一、二、三、四USB信号输入接口电路分别与第一、二、三、四ESD保护电路及第一、二、三、四USB信号接收电路相连，所述第一、二USB信号接收电路分别与第一USB信号控制单元相连，所述第三、四USB信号接收电路分别与第二USB信号控制单元相连，所述第一、二USB信号控制单元分别与可编程逻辑控制单元相连。

本实用新型有益效果是：一种高速USB接口测试装置，包括电源输入控制模块、带载能力取样测试单元、MCU控制单元、USB信号数据检测单元、可编程逻辑控制单元、EEPROM、LED显示电路及第一、二晶振电路，所述电源输入控制模块与带载能力取样测试单元相连，所述带载能力取样测试单元通过I²C口与MCU控制单元相连，所述USB信号数据检测单元与可编程逻辑控制单元相连，所述可编程逻辑控制单元与第一晶振电路相连，所述EEPROM通过RA2、RA3口与MCU控制单元相连，所述第二晶振电路通过OSC1/OSC2口与MCU控制单元相连，所述LED显示电路、可编程逻辑控制单元分别通过I/O口与MCU控制单元相连。与已有技术相比，本实用新型携带方便，显示结果直接，可同时连接四个USB3.0接口，满足USB3.0高速信号传输的测量。

附图说明

图1是本实用新型原理框图。

图2是本实用新型中的USB信号数据检测单元原理框图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步说明。

如图1所示，一种高速USB接口测试装置，包括电源输入控制模块、带载能力取样测试单元、MCU控制单元、USB信号数据检测单元、可编程逻辑控制单元、EEPROM、LED显示电路及第一、二晶振电路，所述电源输入控制模块与带载能力取样测试单元相连，所述带载能力取样测试单元通过I²C口与MCU控制单元相连，所述USB信号数据检测单元与可编程逻辑控制单元相连，所述可编程逻辑控制单元与第一晶振电路相连，所述EEPROM通过RA2、RA3口与MCU控制单元相连，所述第二晶振电路通过OSC1/OSC2口与MCU控制单元相连，所述LED显示电路、可编程逻辑控制单元分别通过I/O口与MCU控制单元相连。