[实用新型]基于自准直哈特曼波前传感器测量波前以及面型的装置有效
| 申请号: | 201520144541.1 | 申请日: | 2015-03-13 |
| 公开(公告)号: | CN204594585U | 公开(公告)日: | 2015-08-26 |
| 发明(设计)人: | 熊召;陈海平;易聪之;邹霞;王国强;孔明新 | 申请(专利权)人: | 成都创为联动科技有限公司;中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号: | G01J9/00 | 分类号: | G01J9/00;G01B11/24 |
| 代理公司: | 成都顶峰专利事务所(普通合伙) 51224 | 代理人: | 李崧岩 |
| 地址: | 621000*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 准直哈特曼波前 传感器 测量 以及 装置 | ||
1.基于自准直哈特曼波前传感器测量波前以及面型的装置,其特征在于,包括光源(1)与准直系统(2),在准直系统(2)的后端还设置有分光镜(3),在分光镜(3)的后端还依次设置有扩束系统(4)与标准镜头(8),在分光镜(3)的侧面还依次设置有微透镜阵列(6)以及光敏感器(7),被测平面镜(5)或者被测球面镜(9)设置在标准镜头(8)的后端。
2. 根据权利要求1所述的基于自准直哈特曼波前传感器测量波前以及面型的装置,其特征在于,所述光源(1)、准直系统(2)、分光镜(3)、扩束系统(4)以及标准镜头(8)的中心位置被同一根水平光轴(10)贯穿,被测平面镜(5)或者被测球面镜(9)的中心位置也被该水平光轴(10)贯穿,分光镜(3)、微透镜阵列(6)以及光敏感器(7)均被一根与水平光轴(10)垂直的垂直光轴(11)贯穿。
3. 根据权利要求2所述的基于自准直哈特曼波前传感器测量波前以及面型的装置,其特征在于,所述光源(1)设置在准直系统(2)的聚焦面上,光敏感器(7)的敏感面位于微透镜阵列的聚焦面上。
4. 根据权利要求3所述的基于自准直哈特曼波前传感器测量波前以及面型的装置,其特征在于,所述光源(1)为点光源。
5. 根据权利要求4所述的基于自准直哈特曼波前传感器测量波前以及面型的装置,其特征在于,所述扩束系统(4)为伽利略扩束系统或开普勒扩束系统。
6. 根据权利要求5所述的基于自准直哈特曼波前传感器测量波前以及面型的装置,其特征在于,所述光敏感器(7)是CCD或CMOS阵列型光敏感器。
7. 根据权利要求6所述的基于自准直哈特曼波前传感器测量波前以及面型的装置,其特征在于,所述分光镜(3)是分光板或分光棱镜,分光比为1:1。
8. 根据权利要求7所述的基于自准直哈特曼波前传感器测量波前以及面型的装置,其特征在于,所述光源(1)与准直系统(2)组成的整体与微透镜阵列(6)与光敏感器(7)组成的整体的位置可以进行互换。
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