[实用新型]金属封装老炼测试插座有效
| 申请号： | 201520135077.X | 申请日： | 2015-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN204439665U | 公开（公告）日： | 2015-07-01 |
| 发明（设计）人： | 李东伟;杨力 | 申请（专利权）人： | 浙江长兴电子厂有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R1/04 |
| 代理公司： | 无锡大扬专利事务所(普通合伙) 32248 | 代理人： | 杨青 |
| 地址： | 江苏省无锡*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 金属 封装 测试 插座 | ||
【权利要求书】：
1.金属封装老炼测试插座，包括盖体和底座，所述的盖体一端通过轴铰接在底座一侧，还包括钩通过压簧和钩轴安装在盖体另一端；当所述的盖体合拢在底座上，所述的钩扣在底座的另一侧；其特征在于：所述的底座上设有定位凸台，定位凸台形成了一个容纳被试器件壳体的定位框；所述的底座在定位框的一侧设有与被试器件的引线数量相同的狭长空腔，在所述狭长空腔内分别安装有弹性接触件，所述弹性接触件的末端贯穿狭长空腔伸出于底座。
2.根据权利要求1所述的金属封装老炼测试插座，其特征在于：所述的定位框另一侧安装有两个弹性支撑件。
3.根据权利要求1或2所述的金属封装老炼测试插座，其特征在于：所述的底座上还包括后脚接触件。
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