[发明专利]基于Schupmann校正结构的成像光学系统及其应用有效
| 申请号： | 201510895152.7 | 申请日： | 2015-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN105319630B | 公开（公告）日： | 2018-07-13 |
| 发明（设计）人： | 贺亮;王克逸;宋婷;李飞;曹涛;孙炳磊 | 申请（专利权）人： | 上海新跃仪表厂 |
| 主分类号： | G02B5/18 | 分类号： | G02B5/18;G02B27/42 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 郭国中;樊昕 |
| 地址： | 200233 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 菲涅尔 校正板 复合 光子筛 校正结构 目镜 成像光学系统 成像透镜组 光学系统 入射光 再聚焦 物镜 衍射 主镜 透镜 彩色图像 色差问题 透镜形成 卫星 点成像 无色 光谱 虚像 成像 应用 输出 | ||
1.一种基于Schupmann校正结构的成像光学系统，包括物镜和目镜，其特征在于，所述Schupmann校正结构包括衍射主镜和菲涅尔校正板，所述衍射主镜即为所述物镜，其采用复合光子筛，所述菲涅尔校正板采用复合菲涅尔校正板，所述光学系统沿入射光方向依次包括复合光子筛以及主要由再成像透镜组、复合菲涅尔校正板以及再聚焦透镜形成的目镜，所述再成像透镜组把复合光子筛上的入射光点成像到复合菲涅尔校正板上，所述再聚焦透镜把光学系统经复合菲涅尔校正板后所成的虚像输出到像面上；在高轨卫星对地观测光学系统中，物镜与目镜在两个卫星上；在低轨卫星对地观测光学系统中，物镜与目镜在一个卫星上。
2.根据权利要求1所述的基于Schupmann校正结构的成像光学系统，其特征在于，所述复合光子筛沿径向分为三个环形区域，由内到外分别用于蓝光、绿光、红光波段成像。
3.根据权利要求2所述的基于Schupmann校正结构的成像光学系统，其特征在于，所述复合菲涅尔校正板沿径向分为三个环形区域，由内到外分别用于蓝光、绿光、红光波段对地成像的色散校正。
4.根据权利要求1所述的基于Schupmann校正结构的成像光学系统，其特征在于，所述复合光子筛为薄膜型，所述再成像透镜为单透镜，所述复合菲涅尔校正板为复合菲涅尔波带片。
5.根据权利要求4所述的基于Schupmann校正结构的成像光学系统，其特征在于，所述再成像透镜位于所述复合光子筛焦面处，所述复合菲涅尔波带片位于所述复合光子筛关于再成像透镜的像面处。
6.根据权利要求5所述的基于Schupmann校正结构的成像光学系统，其特征在于，所述复合菲涅尔波带片和复合光子筛的F数比值为再成像透镜的放大倍数。
7.根据权利要求5所述的基于Schupmann校正结构的成像光学系统，其特征在于，所述复合光子筛与复合菲涅尔波带片口径的比值为再成像透镜的放大倍数。
8.根据权利要求1所述的基于Schupmann校正结构的成像光学系统，其特征在于，所述物镜和目镜的光学元件参数随所述再成像透镜放大率的不同而不同。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海新跃仪表厂，未经上海新跃仪表厂许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510895152.7/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：相位差膜
- 下一篇：光学结构以及透明、侧投、镜面和前投显示屏
