[发明专利]用于圆棒材的缺陷检测设备、方法及缺陷消除系统

权利要求书

1.一种用于圆棒材的缺陷检测设备，其特征在于，包括能绕所述圆棒 材(3)的中轴线作旋转运动的第一检测装置(1)；

所述第一检测装置(1)包括同轴且顺次排布的第一凹面镜(12)、第 一紫外线光源(11)、第一滤光片(13)和第一光学传感器(14)；

所述第一紫外线光源(11)，位于所述第一凹面镜(12)的焦点处；

所述圆棒材(3)，位于所述第一紫外线光源(11)和所述第一滤光片 (13)之间，其中轴线与所述第一凹面镜(12)的主轴垂直相交，其预设 直径小于经所述第一凹面镜(12)反射后形成的紫外平行光束的光斑直径；

所述第一滤光片(13)，用于滤除红外光和可见光，透射紫外光；

所述第一光学传感器(14)，用于检测所述紫外平行光束经所述圆棒材 (3)部分遮挡且经所述第一滤光片(13)透射后形成的光斑图像，产生第 一电阻值。

2.根据权利要求1所述的缺陷检测设备，其特征在于，所述第一光学 传感器(14)为光敏电阻器。

3.根据权利要求1或2所述的缺陷检测设备，其特征在于，还包括第 二检测装置(2)；

所述第二检测装置(2)包括同轴且顺次排布的第二凹面镜(22)、第 二紫外线光源(21)、第二滤光片(23)和第二光学传感器(24)；

所述第二紫外线光源(21)，位于所述第二凹面镜(22)的焦点处；

所述圆棒材(3)，位于所述第二紫外线光源(21)和所述第二滤光片 (23)之间，其中轴线与所述第二凹面镜(22)的主轴垂直相交，其预设 直径小于经所述第二凹面镜(22)反射后形成的紫外平行光束的光斑直径；

所述第二滤光片(23)，用于滤除红外光和可见光，透射紫外光；

所述第二光学传感器(24)，用于检测所述紫外平行光束经所述圆棒材 (3)部分遮挡且经所述第二滤光片(23)透射后形成的光斑图像，产生第 二电阻值。

4.根据权利要求3所述的缺陷检测设备，其特征在于，所述第二检测 装置(2)用于能绕所述圆棒材(3)的中轴线作旋转运动。

5.根据权利要求3或4所述的缺陷检测设备，其特征在于，所述第二 光学传感器(24)为光敏电阻器。

6.一种用于圆棒材的缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

启动第一紫外线光源(11)；

第一凹面镜(12)反射所述第一紫外线光源(11)发射的光束，形成 紫外平行光束；

所述圆棒材(3)被所述紫外平行光束照射；

第一滤光片(13)滤除所述圆棒材(3)本身辐射的红外光束和发射的 可见光束，且透射经所述圆棒材(3)部分遮挡的所述紫外平行光束；

控制第一检测装置(1)绕所述圆棒材(3)的中轴线作旋转运动，所 述第一检测装置(1)包括同轴且顺次排布的第一凹面镜(12)、第一紫外 线光源(11)、第一滤光片(13)和第一光学传感器(14)；

所述第一光学传感器(14)在旋转的同时检测所述紫外平行光束经所 述圆棒材(3)部分遮挡且经所述第一滤光片(13)透射后形成的光斑图像， 产生第一电阻值；

当所述第一电阻值大于预设电阻值时，获得所述圆棒材(3)存在缺陷 的检测结果。