[发明专利]一种微位移测试系统用微处理器外围电路

说明书

本发明公开了一种微位移测试系统用微处理器外围电路，用于连接微处理器，包括晶振电路和复位电路；所述晶振电路包括：与所述微处理器XTAL1接口和XTAL2接口连接的无源晶振，连接在所述微处理器的XTAL1接口和接地端之间的电容C19，连接在所述微处理器的XTAL2接口和接地端之间的电容C20；所述复位电路包括连接在所述微处理器的RST接口与+5V电源之间的极性电容E17,以及连接在所述微处理器的RST接口和接地端之间的电阻R9；其中所述极性电容E17的正极连接+5V电源，负极连接所述微处理器的RST接口。其技术效果是：其能够保证微处理器输出稳定的方波信号，同时防止微处理器发出错误的指令或执行错误操作，提高微处理器的电磁兼容性能。

技术领域

本发明涉及微位移测试领域的一种微位移测试系统用微处理器外围电路。

背景技术

在微位移测试系统中，微处理器的主要作用在于：输出方波信号，驱动线性可变差动变压器式传感器进行采样，并对经模数转换后的线性可变差动变压器式传感器的采样结果进行读取，从而完成微位移数据的测试。目前微位移测试系统中应用最为广泛的是意法半导体的STC12C5630AD微处理器，其是一种单时钟/机器周期的微处理器，抗干扰能力强，运算速度快，内部集成MAX810专用复位电路，4路PWM斩波电路和8路高速10位模数转换电路。该微处理器的工作电压为3.5～5。5V，工作频率为0～35MHZ，具有EEPROM功能和看门狗模块等。

发明内容

本发明的目的是为了克服现有技术的不足，提供一种微位移测试系统用微处理器外围电路，其能够保证微处理器输出稳定的方波信号，驱动线性可变差动变压器式传感器，并可对经过模数转换后的，由线性可变差动变压器式传感器所输出的差分输出信号进行读取，从而完成微位移数据的测试，同时微位移测试系统用微处理器外围电路可以防止微处理器发出错误的指令或执行错误操作，也可以提高微处理器的电磁兼容性能。

实现上述目的的一种技术方案是：一种微位移测试系统用微处理器外围电路，用于连接微处理器，包括晶振电路和复位电路；

所述晶振电路包括：与所述微处理器XTAL1接口和XTAL2接口连接的无源晶振，连接在所述微处理器的XTAL1接口和接地端之间的电容C19，连接在所述微处理器的XTAL2接口和接地端之间的电容C20；

所述复位电路包括连接在所述微处理器的RST接口与+5V电源之间的极性电容E17,以及连接在所述微处理器的RST接口和接地端之间的电阻R9；其中所述极性电容E17的正极连接+5V电源，负极连接所述微处理器的RST接口。

进一步的，所述微位移测试系统用微处理器外围电路还包括一个按键中断电路，所述按键中断电路包括用于连接所述微处理器的INO3.2接口、INI 3.3接口和GND接口的开关K1，连接所述微处理器的INO3.2接口和接地端的电容C12，以及连接所述微处理器的INO3.2接口和+5V电源的电阻R21，所述微处理器的GND接口接地。

进一步的，所述微位移测试系统用微处理器外围电路还包括连接在所述微处理器的VCC接口和+5V电源之间的，相互并联设置的电解电容和陶瓷电容。

进一步的，所述无源晶振的晶振频率为20MHz。