[发明专利]电路测试方法及适用的测试系统在审

专利信息
申请号: 201510807599.4 申请日: 2015-11-20
公开(公告)号: CN105301481A 公开(公告)日: 2016-02-03
发明(设计)人: 王哲;龚明;冯云;曲海山;那丽丽;朱剑;佘彩云 申请(专利权)人: 上海无线电设备研究所
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 周乃鑫;张妍
地址: 200090 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 电路 测试 方法 适用 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及自动化测试领域,具体涉及一种电路测试方法及适用的测试系统。

背景技术

在组建自动测试系统的过程中,软件用于完成人机交互、仪器驱动、测试流程控制、测试结果处理等功能,是自动测试系统的灵魂,传统测试系统测试软件的编制,主要以测试对象为依据,通常是一个测试对象对应一个测试程序。当测试系统的测试对象数量众多时,就需要大量的测试程序与之对应,由此带来测试软件规模十分庞大,软件的维护也越来越困难。因此,传统测试软件的通用性、可靠性、可维护性和可扩展性都很差。因此有必要设计一种通用的软件框架以便能实现特定测试对象与特定测试程序的分离。

与传统的直接面向仪器的方法相比,面向信号的软件结构是通用自动测试系统的发展方向。所谓面向信号,是指在彻底了解被测对象结构、功能和输入/输出信号特性的基础上,从测试需求和被测信号特性出发,设计和构建被测对象的自动测试系统。测试程序中只包含针对被测对象的信号激励和测试要求,而具体的仪器选择在测试软件开发或运行环境中自动实现。面向对象信号软件结构中使用虚拟资源,需要通过资源配置来实现虚拟资源和真实资源之间的匹配,当仪器资源更改时不需要对原有的测试程序作任何更改。

发明内容

本发明提供一种电路测试方法及适用的测试系统,缩短开发周期,利用数据库进行测试方法的自动重构,提高针对各种被测对象的通用性。

为实现上述目的,本发明提供一种电路测试方法,其特点是,该方法包含:

S1、被测对象的特性、测试仪器,以及各被测对象与测试仪器之间的连接关系存入数据库,建立被测对象模型、测试仪器模型和连接关系模型;

S2、确立当前测试的被测对象,从数据库中查询当前测试的被测对象的被测对象模型、测试仪器模型和连接关系模型;

S3、根据被测对象模型、测试仪器模型和连接关系模型,启动测试仪器对当前测试的被测对象进行测试。

上述S1包含:

根据被测对象的信号特征,将被测对象的类型、名称、管脚属性写入数据库,建立被测对象模型;

根据被测对象所输出信号的信号类型、信号指标、输入/输出特性和需要测试的参数,匹配相应的测试仪器存入数据库,建立测试仪器模型;

根据数据库中存储的被测对象和测试仪器的信息建立被测对象与测试仪器之间的连接关系模型。

上述S2包含:

确立当前测试的被测对象;

数据库中查询当前测试的被测对象模型,获取被测对象的类型、名称、管脚属性;

数据库中查询当前测试的被测对象所对应的测试仪器模型,获取测试功能和测试能力匹配被测对象的测试仪器;

数据库中查询当前测试的被测对象与测试仪器的连接关系模型;获得被测对象管脚信号与测量仪器之间的切换关系,建立开关配置方式;

将查询被测对象模型、测试仪器模型、连接关系模型获取的数据映射给实际的测试仪器。

上述S3包含:

根据查询被测对象模型、测试仪器模型、连接关系模型获取的数据,控制测试仪器对被测对象进行测试;

完成测试后处理并保存测试结果。

一种适用于上述电路测试方法的测试系统,其特点是,该系统包含:连接被测对象的信号接口适配器,通信连接信号接口适配器的开关系统和测试仪器,通信连接测试仪器的主控计算机。

上述的测试仪器包含电源模块、激励模块、测量模块和通信模块。

上述电源模块包含给被测对象加电的可程控电源;激励模块包含数字及模拟输出板卡和用于测试的信号源;测量模块包含万用表、数据采集卡、示波器及频谱仪;通信模块包括串口通信卡和嵌入式通信卡。

上述开关系统包含高速矩阵开关卡、多路复用器开关卡及继电器。

上述信号接口装置包含信息技术协议模块和测试适配器。

本发明电路测试方法及适用的测试系统和现有技术的电路测试技术相比,其优点在于,本发明利用数据库建立系统模型,可灵活地根据测试需求对被测对象或仪器资源信息进行添加、编辑等工作,利用数据库实现测试软件的自动重构;

本发明建立的连接关系模型对开关资源进行智能配置,可有效地防止人工错误而造成质量事故;

本发明面向信号的软件平台架构,能真正实现测试程序与具体被测对象及仪器的无关性,从而实现测试软件的通用性,大大缩短了软件的开发周期,提高了软件编程、使用和维护的效率。

附图说明

图1为本发明测试系统的电路模块图;

图2为本发明电路测试方法的流程图;

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