[发明专利]一种调整时钟的方法及控制器

权利要求书

1.一种调整时钟的方法，其特征在于，应用于控制器，所述控制器包括配置寄存器、信号产生电路、读写预处理电路以及读数据采样电路，所述读数据采样电路包括异步处理模块、时钟门控电路和时钟延时电路，所述时钟门控电路与所述配置寄存器和所述信号产生电路分别相连，所述时钟延时电路与所述配置寄存器和时钟门控电路分别相连，所述异步处理模块分别与时钟延时电路、存储器相连；包括:

进行存储器的读写测试，以得到使控制器从所述存储器中准确采样数据的延时长度；

设置配置寄存器的延时参数为所述延时长度；

控制读数据采样电路根据所述延时参数生成实际采样时钟，以异步处理模块根据所述实际采样时钟从所述存储器中采样数据，并对所述存储器的数据进行采样得到的采样结果进行缓存，确认采样结果稳定后将采样结果根据所述控制器的工作时钟，返回至所述读写预处理电路；

其中，控制读数据采样电路根据所述延时参数生成实际采样时钟，包括：

所述时钟延时电路接收理想采样时钟，并接收所述配置寄存器配置的延时参数，以使所述理想采样时钟根据所述延时参数对理想采样时钟进行延时，产生实际采样时钟，所述配置寄存器配置的延时参数为所述延时长度；

其中，所述理想采样时钟是按照以下方式得到的：

所述时钟门控电路接收所述控制器的工作时钟，并接收所述信号产生电路传递的读数据有效标志，使该工作时钟根据该读数据有效标识产生与采样结果个数相同的上升沿，以得到理想采样时钟，其中，所述读数据有效标志根据存储器发送的地址信息和命令信息产生。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述进行存储器的读写测试，以得到使控制器从所述存储器中准确采样数据的延时长度的步骤，包括：

向存储器中写入测试数据；

在当前延时参数下，通过控制器从所述存储器中采样所述测试数据；

在所述控制器的采样结果与所述测试数据不同时，按预设幅度对所述当前延时参数进行调整；

将调整后的延时参数作为当前延时参数输出至所述在当前延时参数下，通过控制器从所述存储器中采样所述测试数据的步骤；

在所述控制器的采样结果与所述测试数据相同时，将所述当前延时参数确定为第一延时长度。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在当前延时参数下，通过控制器从所述存储器中采样所述测试数据的步骤，包括：

读数据采样电路根据当前延时参数对采样时钟进行延时，得到实际采样时钟；其中，所述读数据采样电路为所述控制器中对所述存储器进行数据采样的电路；

所述读数据采样电路根据所述实际采样时钟对所述存储器中的数据进行采样。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述进行存储器的读写测试，以得到使控制器从所述存储器中准确采样数据的延时长度的步骤，还包括：

在所述第一延时长度的基础上按预设幅度对延时参数进行调整，得到新的当前延时参数；

在当前延时参数下，通过控制器从所述存储器中采样所述测试数据；

在所述控制器的采样结果与所述测试数据相同时，按预设幅度对所述当前延时参数进行调整；

将调整后的延时参数作为当前延时参数输出至所述在当前延时参数下，通过控制器从所述存储器中读取所述测试数据的步骤；

在所述控制器的采样结果与所述测试数据不同时，将所述当前延时参数的前一次延时参数确定为第二延时长度；

将介于所述第一延时长度与所述第二延时长度之间的值确定为延时长度。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述延时长度为所述第一延时长度与所述第二延时长度的平均值。

6.根据权利要求2或4所述的任一方法，其特征在于，所述在所述控制器的采样结果与所述测试数据不同时，按预设幅度对所述当前延时参数进行调整的步骤，包括：

通过粗调方式和/或微调方式调整所述延时参数，所述延时参数包括粗调延时和微调延时；其中，所述通过所述粗调方式调整的所述粗调延时以所述控制器的一个工作时钟为时间单位；所述通过所述微调方式调整的所述微调延时以一个标准库单元为时间单位。