[发明专利]显影装置

说明书

一种显影装置，包括：显影容器，用于容纳显影剂；上部盖部分，用于覆盖显影容器的顶表面；显影剂承载部件，由显影容器可旋转地支撑，用于承载和进给显影容器内的显影剂；层厚管控部件，提供于显影容器上，用于管控在显影剂承载部件上承载的显影剂的层厚；进给部件，在与显影剂承载部件相对的位置处可旋转地提供于显影容器内，用于进给显影容器中的显影剂；以及光透射部分，提供于上部盖部分中，用于允许光透射到显影容器内部，其中，光透射部分布置在这样的位置，在所述位置，当进入显影容器内部的光束由显影容器的旋转轴的表面规则反射时，被规则反射的光通过显影剂承载部件和层厚管控部件之间的间隙发射至显影容器的外部。

技术领域

本发明涉及一种显影装置，其中，显影剂被承载在显影剂承载部件上，图像承载部件上的静电图像通过显影剂显影。具体地，本发明涉及一种用于测量显影剂承载部件和层厚管控部件之间的间隙的结构，所述层厚管控部件用于管控显影剂承载部件上承载的显影剂的厚度。

背景技术

电子照相类型的普通成像装置广泛地用作复印机、打印机、绘图仪、传真机、具有这些机器的多种功能的多功能机器等。在成像装置中，采用通过成像单元使显影剂图像显现于片材上的方法，所述成像单元由使用显影剂的显影单元(显影装置)以及感光鼓单元等构成。在显影单元中，提供了用于将显影剂供给至感光鼓的显影套筒(显影剂承载部件)，新鲜的显影剂总是通过在显影套筒的外周表面上承载显影剂并且使所述显影套筒旋转而供给至感光鼓上。

也就是说，在显影单元中，涂覆在显影套筒上的显影剂的量对图像质量有很大影响。也就是，有这样的可能：当显影套筒上的显影剂涂覆量较小时，用于使感光鼓上的静电图像显影的调色剂的量变小，因此产生图像缺陷，例如图像的白丢失。此外，还存在这样的可能：当显影套筒上的显影剂涂覆量较大时，显影剂滞留在显影套筒和感光鼓之间，从而产生这样的图像缺陷，即，感光鼓上的调色剂转印至整个表面上，调色剂熔化于显影套筒上，因此图像密度变小。因此，广泛采用这样的结构，其中，显影刮刀(层厚管控部件)提供在与显影套筒相对的位置处，并管控要涂覆的显影剂的量。显影剂涂覆量对显影套筒和显影刮刀之间的间隙(间距)有很大影响，因此显影套筒、显影刮刀和定位部件(部分)的尺寸公差需要有非常高的精度。

为此，已知这样的调节方法，其中，例如光从光源朝向显影套筒和显影刮刀之间的间隙发射，以便通过使用照相机检测其反射光而测量所述间隙的尺寸，然后，根据测量结果调节所述间隙(日本专利申请公开(JP-A)2000-330349)。根据这种调节方法，能够在不考虑显影套筒、显影刮刀和定位部件的尺寸公差的情况下定位实际部件(部分)，使得能够非常精确地调节显影套筒和显影刮刀之间的间隙。

此外，还开发了这样的显影单元，其中，显影套筒和显影刮刀以独立的状态作为刮刀单元被调节，然后装入调节后的刮刀单元，以便形成显影单元(JP-A 2011-150102)。根据这种显影单元，能够容易地进行显影套筒和显影刮刀之间的间隙调节，因此装配操作性和维护特性也优良。

不过，在上述JP-A 2000-330349的调节方法中，测量来自显影套筒和显影刮刀的反射光，因此测量精度在很大程度上依赖于针对显影套筒和显影刮刀的表面特性、表面处理以及材料。因此，反射光的强度等可能根据测量条件而显著变化，因此难以进行稳定的测量，使得难以将所述调节方法应用于要批量生产的显影单元。

在上述JP-A 2011-150102公开的显影单元中，显影套筒和显影刮刀之间的间隙调节在未完工的状态下进行，但是处于未完工状态的显影单元在刚性上与处于完工状态的显影单元不同。因此，当处于完工状态的显影单元安装至成像装置中并且然后被按压时在显影套筒和显影刮刀之间的间隙与当显影单元在未完工状态下被调节时在显影套筒和显影刮刀之间的间隙之间产生误差。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种显影装置，所述显影装置能够在装配之后高精度地实现显影剂承载部件和层厚管控部件之间的间隙调节。