[发明专利]N型TFT的制作方法在审

专利信息
申请号: 201510703744.4 申请日: 2015-10-26
公开(公告)号: CN105304500A 公开(公告)日: 2016-02-03
发明(设计)人: 胡国仁 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司;武汉华星光电技术有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人: 林才桂
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: tft 制作方法
【权利要求书】:

1.一种N型TFT的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1、提供一基板(10),在所述基板(10)上沉积一遮光层,对所述遮光层进行栅格状图案化处理,得到多个相互间隔的独立遮光块(21);

步骤2、在所述多个独立遮光块(21)及基板(10)上依次沉积缓冲层(30)和非晶硅层,并使所述非晶硅层结晶、转化为多晶硅层(40);

所述多晶硅层(40)对应于多个独立遮光块(21)的第一区域(41)的结晶晶粒最小,对应于每相邻两个独立遮光块(21)之间间隔的第二区域(42)的结晶晶粒最大,剩余的第三区域(43)的结晶晶粒适中;

步骤3、在所述多晶硅层(40)上沉积栅极绝缘层(50);

步骤4、在所述栅极绝缘层(50)上沉积一层导电薄膜并进行图案化处理,得到栅极导电层(60);

所述栅极导电层(60)位于所述多个相互间隔的独立遮光块(21)的正上方,其两侧均暴露出所述多晶硅层(40)的第三区域(43)与部分第一区域(41);

步骤5、以所述栅极导电层(60)为遮挡层,对所述多晶硅层(40)进行一次N型离子掺杂,所述多晶硅层(40)的第三区域(43)经N型离子掺杂后的电阻率小于所述多晶硅层(40)的部分第一区域(41)经N型离子掺杂后的电阻率,所述多晶硅层(40)的部分第一区域(41)经N型离子掺杂后等同于轻掺杂漏区。

2.如权利要求1所述的N型TFT的制作方法,其特征在于,还包括:

步骤6、在所述栅极导电层(60)和栅极绝缘层(50)上沉积一层间绝缘层(70),对所述层间绝缘层(70)与栅极绝缘层(50)进行图案化处理,形成暴露出所述栅极导电层(60)部分表面的第一接触孔(71)、及分别于所述栅极导电层(60)两侧暴露出经N型离子掺杂后的多晶硅层(40)第三区域(43)的部分表面的第二接触孔(72)、与第三接触孔(73);

步骤7、在所述层间绝缘层(70)上沉积并图案化金属层,形成经由第一接触孔(71)接触所述栅极导电层(60)的栅极(81)、分别经由第二接触孔(72)、第三接触孔(73)接触经N型离子掺杂后的多晶硅层(40)第三区域(43)的源极(82)与漏极(83)。

3.如权利要求1所述的N型TFT的制作方法,其特征在于,所述基板(10)为玻璃基板或塑料基板。

4.如权利要求1所述的N型TFT的制作方法,其特征在于,所述步骤2通过对所述非晶硅层进行脱氢处理,采用准分子激光退火制程使所述非晶硅层结晶、转化为多晶硅层(40)。

5.如权利要求1所述的N型TFT的制作方法,其特征在于,所述多个相互间隔的独立遮光块(21)的数量为3个或3个以上。

6.如权利要求1所述的N型TFT的制作方法,其特征在于,所述步骤1中的遮光层的材料为金属。

7.如权利要求1所述的N型TFT的制作方法,其特征在于,所述缓冲层(30)、栅极绝缘层(50)、与层间绝缘层(70)的材料为氧化硅、氮化硅、或二者的组合;所述栅极导电层(60)、栅极(81)、源极(82)、与漏极(83)的材料为钼、钛、铝、铜中的一种或几种的堆栈组合。

8.如权利要求1所述的N型TFT的制作方法,其特征在于,适用于制作AMLCD、AMOLED、及柔性显示器件。

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