[发明专利]相干相位敏感光时域反射仪的处理方法及装置在审
| 申请号： | 201510685764.3 | 申请日： | 2015-10-20 |
| 公开（公告）号： | CN106595837A | 公开（公告）日： | 2017-04-26 |
| 发明（设计）人： | 何祖源;樊昕昱;郭勇;朱松林;印永嘉;刘庆文;马麟;杜江兵;阳光耀 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01H9/00 | 分类号： | G01H9/00 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人： | 江舟,李灵洁 |
| 地址： | 518057 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 相干 相位 敏感 时域 反射 处理 方法 装置 | ||
1.一种相干相位敏感光时域反射仪的处理方法，其特征在于，包括：
通过相位敏感光时域反射仪φ-OTDR提取待测光纤的相位，其中，所述待测光纤上设置有辅助弱反射点，所述相位为通过所述辅助弱反射点对所述待测光纤中的瑞利散射光的相位信号进行校正后得到的相位。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测光纤上设置辅助弱反射点包括：
在所述待测光纤上等距设置辅助弱反射点。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括：
设置所述弱反射点的反射强度高于所述瑞利散射光。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述弱反射点的反射强度高于所述瑞利散射光包括：
所述弱反射点的反射强度比所述瑞利散射光高3dB～10dB。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过相位敏感光时域反射仪φ-OTDR提取待测光纤的相位包括以下之一：
通过光混合器获得相干探测拍频信号的相位信息；
通过算法获得相干探测拍频信号的相位信息。
6.一种相干相位敏感光时域反射仪的处理装置，其特征在于，包括：待测光纤，所述待测光纤上设置辅助弱反射点；
所述待测光纤与相位敏感光时域反射仪φ-OTDR连接，其中，通过相位敏感光时域反射仪φ-OTDR提取所述待测光纤的相位，其中，所述辅助弱反射点用于对所述待测光纤中的瑞利散射光的相位信号进行校正。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述待测光纤上设置所述辅助弱反射点包括：
在所述待测光纤上等距设置辅助弱反射点。
8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述辅助弱反射点包括：
微球面研磨抛光PC/PC接头。
9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，包括：
所述弱反射点的反射强度高于所述瑞利散射光。
10.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，该装置还包括：光混合器；
所述光混合器和所述相位敏感光时域反射仪φ-OTDR连接，所述相位敏感光时域反射仪φ-OTDR通过所述光混合器获得相干探测拍频信号的相位信息。
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