[发明专利]薄膜晶体管阵列基底及其制造方法和有机发光显示设备有效
| 申请号: | 201510672844.5 | 申请日: | 2015-10-16 |
| 公开(公告)号: | CN105529334B | 公开(公告)日: | 2021-03-16 |
| 发明(设计)人: | 朴商镇;金明好;朴相熙;李根昌;车在成;崔泰赫 | 申请(专利权)人: | 三星显示有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L27/32;H01L21/77 |
| 代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 刘灿强 |
| 地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 薄膜晶体管 阵列 基底 及其 制造 方法 有机 发光 显示 设备 | ||
1.一种薄膜晶体管阵列基底,其特征在于,所述薄膜晶体管阵列基底包括:
缓冲层,设置在基底上;
存储电容器,设置在所述缓冲层中,并且包括沿垂直于所述基底的方向形成的第一电极和平行于所述第一电极设置且与所述第一电极绝缘的第二电极,其中,所述缓冲层的位于所述第一电极与所述第二电极之间的部分用作存储绝缘层;以及
驱动薄膜晶体管,设置在所述缓冲层上。
2.如权利要求1所述的薄膜晶体管阵列基底,其特征在于,所述薄膜晶体管阵列基底还包括连接所述第一电极和所述驱动薄膜晶体管的漏电极的连接件。
3.如权利要求1所述的薄膜晶体管阵列基底,其特征在于,所述存储电容器形成在所述基底的边缘上。
4.如权利要求3所述的薄膜晶体管阵列基底,其特征在于,所述第一电极沿所述基底的四个侧边缘形成。
5.如权利要求4所述的薄膜晶体管阵列基底,其特征在于,
所述第二电极以距离所述第一电极的预定距离设置,并且与所述第一电极相比设置在所述基底的更外侧上,
所述第二电极沿所述基底的四个侧边缘形成。
6.一种薄膜晶体管阵列基底,其特征在于,所述薄膜晶体管阵列基底包括:
驱动薄膜晶体管,设置在基底上;以及
存储电容器,设置在所述基底中,并且包括沿垂直于所述基底的方向形成的第一电极和平行于所述第一电极设置且与所述第一电极绝缘的第二电极,
其中,所述基底的位于所述第一电极与所述第二电极之间的部分用作存储绝缘层。
7.如权利要求6所述的薄膜晶体管阵列基底,其特征在于,所述薄膜晶体管阵列基底还包括设置在所述基底上的缓冲层,
其中,电极孔形成在所述缓冲层中。
8.如权利要求7所述的薄膜晶体管阵列基底,其特征在于,所述薄膜晶体管阵列基底还包括:
栅极绝缘层和层间绝缘层,形成在所述缓冲层上;以及
连接件,设置在所述层间绝缘层上以连接所述第一电极和所述驱动薄膜晶体管的漏电极,
其中,所述连接件通过所述电极孔连接所述第一电极和所述漏电极。
9.如权利要求6所述的薄膜晶体管阵列基底,其特征在于,
所述第一电极和所述第二电极设置在所述基底的边缘上,并沿所述基底的四个侧边缘形成,
所述第二电极与所述第一电极相比形成在所述基底的更外侧上。
10.一种制造薄膜晶体管阵列基底的方法,其特征在于,所述方法包括:
在基底上形成缓冲层;
沿垂直于所述基底的方向在所述缓冲层中形成第一图案,并且在所述缓冲层中平行于所述第一图案形成第二图案;
通过分别在所述第一图案和所述第二图案中沉积第一电极和第二电极形成存储电容器,其中,所述缓冲层的位于所述第一电极与所述第二电极之间的部分用作存储绝缘层;
在所述缓冲层上形成驱动薄膜晶体管的有源层、源电极和漏电极;
在所述有源层上形成使栅电极绝缘且具有接触孔的栅极绝缘层;以及
形成通过所述接触孔连接所述第一电极和所述源电极或所述漏电极的连接件。
11.如权利要求10所述的方法,其特征在于,
所述第一图案和所述第二图案设置在所述基底的边缘上,并沿所述基底的四个侧边缘形成,
所述第二图案与所述第一图案相比形成在所述基底的更外侧上。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





