[发明专利]一种荧光检测次氯酸的试剂和方法在审
| 申请号: | 201510611238.2 | 申请日: | 2015-09-23 |
| 公开(公告)号: | CN105203514A | 公开(公告)日: | 2015-12-30 |
| 发明(设计)人: | 阴彩霞;岳永康;霍方俊 | 申请(专利权)人: | 山西大学 |
| 主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
| 代理公司: | 山西五维专利事务所(有限公司) 14105 | 代理人: | 张福增 |
| 地址: | 030006 山*** | 国省代码: | 山西;14 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 荧光 检测 次氯酸 试剂 方法 | ||
技术领域
本发明涉及次氯酸检测分析技术,具体涉及一种荧光检测次氯酸的试剂和方法。
背景技术
次氯酸(HClO)和次氯酸钠(NaClO)作为一种强氧化剂广泛应用于有机合成、消毒和漂白中。同时,在生物体中,通过氯离子在血红素酶髓过氧物酶的催化下的过氧化反应合成的次氯酸是一种必需的抗菌剂。然而,体内过量的次氯酸会引发诸如肝缺血再灌注损伤、动脉粥样硬化、肺损伤、风湿病、心血管疾病、神经退化、甚至癌症等疾病。其在体内的浓度水平及作用过程成为了研究其致病原理的关键点。目前,对次氯酸浓度测定的方法主要有电势测定法(Thiagarajan,S.,Wu,Z.Y.,Chen,S.M.AmperometricdeterminationofsodiumhypochloriteatpolyMnTAPP-nanoAufilmmodifiedelectrode[J].J.Electroanal.Chem.,2011,661,322-328;Adam,L.C.,Gordon,G.Directandsequentialpotentiometricdeterminationofhypochlorite,chlorite,andchlorateionswhenhypochloriteionispresentinlargeexcess[J].Anal.Chem.,1995,67,535-540)、极谱法(Efimov,V.T.,Shchepilov,N.S.,Neupokoev,Y.P.Polarographicdeterminationofhypochloritesinindustrialsolutions[J].VoprosyKhimiiiKhimicheskoiTekhnologii,1983,70,76-78)、库仑法(Krivis,A.F.,Gazda,E.S.Coulometrictitrationofhypochloriteion[J].Anal.Chem.,1967,39,226-227)和光学探针方法(Yuan,L.,Wang,L.,Agrawalla,B.K.,Park,S.J.,Zhu,H.,Sivaraman,B.,Peng,J.J.,Xu,Q.H.,Chang,Y.T.Developmentoftargetabletwo-photonfluorescentprobestoimagehypochlorousacidinmitochondriaandlysosomeinlivecellandinflamedmousemodel[J].J.Am.Chem.Soc.,2015,137,5930-5938;Zhu,H.,Fan,J.L.Wang,J.Y.Mu,H.Y.,Peng,X.J.An“enhanced-PET”basedfluorescentprobewithultrasensitivityforimagingbasalandelesclomolinducedHClOincancercells[J].J.Am.Chem.Soc.,2014,136,12820-12823)。而光学探针方法以其可检测标记活体细胞内次氯酸浓度水平的优势成为了科学家研究的重点。目前报道的用于检测次氯酸的光学探针大都经过多步合成,且合成条件苛刻,无法应用于大规模生产。发展新的过程简单、精度高、成本低、适用性广的检测次氯酸的方法非常必要。
本发明中,我们合成了一种吡啶盐类化合物,基于次氯酸对C=C的氧化断裂反应引起的荧光变化,实现对HClO的检测。
发明内容
本发明的目的是提供一种合成简单,选择性高,适用性广的定量检测HClO的试剂,以及用该试剂检测HClO的方法。
本发明提供的一种检测次氯酸的试剂,它是一种吡啶盐类衍生物FHMMI((E)-4-(5-formyl-2-hydroxy-3-methoxystyryl)-1-methylpyridin-1-iumiodide)。
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