[发明专利]一种通过激发金属粉末直接测量90Sr含量的方法在审
| 申请号: | 201510561335.5 | 申请日: | 2015-09-06 |
| 公开(公告)号: | CN105242297A | 公开(公告)日: | 2016-01-13 |
| 发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军63653部队 |
| 主分类号: | G01T1/167 | 分类号: | G01T1/167 |
| 代理公司: | 乌鲁木齐新科联知识产权代理有限公司 65107 | 代理人: | 王志刚 |
| 地址: | 841700 新疆维吾*** | 国省代码: | 新疆;65 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 通过 激发 金属粉末 直接 测量 sup 90 sr 含量 方法 | ||
1.一种通过激发金属粉末直接测量90Sr含量的方法,其特征在于:所述的方法包括下述步骤:
一、γ谱仪能量刻度:选用241Am-137Cs-60Co混合点源,置于高纯锗γ能谱探测器端面上方,进行能谱测量,根据241Am59.54keV、137Cs661.7keV、60Co1332keV三条γ射线所对应的道址,给出能量和道址关系曲线,完成能量刻度;
二、90Sr探测效率刻度:将选定金属粉末标准体源置于高纯锗γ能谱探测器端面上方,测量在特征X射线的计数率n,标定该方法的探测效率ε=n/A;
三、样品中90Sr含量测量:采集待测区域样品,使用烘干机和粉碎机,将样品在100~110℃下烘干4小时、粉碎,过100目筛后,加入与效率刻度相同质量含量的同种金属粉末,混合均匀后制备待测样品;保持与效率刻度相同的测量几何条件,将待测样品置于γ能谱探测器端面上方,测量其γ能谱;解谱得到特征X射线计数N,根据探测效率可求出样品中的90Sr活度Ax=N/(ε·t)。
2.根据权利要求1所述的一种通过激发金属粉末直接测量90Sr含量的方法,其特征在于:所述的金属粉末为金粉末或银粉末或铅粉末。
3.根据权利要求1所述的一种通过激发金属粉末直接测量90Sr含量的方法,其特征在于:所述的高纯锗γ能谱探测器为市售产品。
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