[发明专利]基于内部温度的波动控制装置性能的装置及其方法

权利要求书

1.电子装置，包括：

传感器模块，配置为测量所述电子装置的内部温度；

表面温度预测模块，配置为：利用内部温度的变化值来确定包括用于预测所述电子装置的表面温度的、每个时间点的多个内部温度的时间范围；以及利用所述时间范围中的每个时间点的内部温度来预测所述电子装置的表面温度；以及

处理器，配置为基于预测的表面温度来控制所述电子装置的性能的至少一部分。

2.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述表面温度预测模块进一步被配置为基于所述时间范围中的每个时间点的内部温度测量值的加权平均值预测所述电子装置的表面温度。

3.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述处理器还配置为，

通过基于所预测的表面温度调节中央处理器或图形处理单元的操作时钟、操作核的数量、所述电子装置的充电电流的等级、所述电子装置的屏幕亮度、或帧率中的至少一个或多个来控制所述电子装置的所述性能的至少一部分。

4.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述处理器还配置为，如果所预测的表面温度达到预定的温度，则控制所述电子装置的所述性能的至少一部分，以及

其中，用于控制电子设备的性能的至少一部分的被控性能等级是基于所预测的表面温度的变化值确定的。

5.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述处理器还配置为，如果所预测的表面温度达到第一限制温度，则将所述电子装置的所述性能的至少一部分控制为至少大于或等于第一等级，以及，

如果所预测的表面温度达到第二限制温度，则控制所述电子装置的所述性能以使其至少大于或等于第二等级。

6.根据权利要求5所述的电子装置，其中，所述第二限制温度大于所述第一限制温度，并且所述第二等级小于所述第一等级。

7.根据权利要求5所述的电子装置，其中，所述处理器还配置为基于所预测的表面温度的变化值分阶段控制所述电子装置的所述性能的至少一部分。

8.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述传感器模块还配置为测量所述电子装置的另一内部温度，以及

所述表面温度预测模块还配置为利用测量的所述另一内部温度更新所述电子装置的所述表面温度。

9.根据权利要求8所述的电子装置，其中，所述表面温度预测模块还配置为基于所测量的内部温度和所测量的另一内部温度之间的变化值更新所述时间范围。

10.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述表面温度预测模块还配置为，如果所述内部温度的所述变化值大于或等于预定值，则使用最近测量的一个表面温度。

11.根据权利要求1所述的电子装置，其中，所述处理器还配置为，如果所述预测的表面温度达到目标温度，则恢复所述电子装置的性能的所述至少一部分。

12.根据权利要求11所述的电子装置，其中，所述处理器还配置为基于所述表面温度的变化值分阶段恢复所述电子装置的性能的所述至少一部分。

13.控制电子装置的性能的方法，包括：

测量所述电子装置的内部温度；

利用内部温度的变化值来确定包括用于预测所述电子装置的表面温度的、每个时间点的多个内部温度的时间范围；

利用所述时间范围中的每个时间点的内部温度预测所述电子装置的表面温度；以及

基于所预测的表面温度控制所述电子装置的性能的至少一部分。

14.如权利要求13所述的方法，其中所述预测的步骤包括：

基于所述时间范围中的每个时间点的内部温度测量值的平均值预测所述电子装置的表面温度。