[发明专利]频率特性调节夹具、天线测试设备和方法、以及环天线在审
| 申请号: | 201510547725.7 | 申请日: | 2015-08-31 |
| 公开(公告)号: | CN105470648A | 公开(公告)日: | 2016-04-06 |
| 发明(设计)人: | 伴泰光;甲斐学 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
| 主分类号: | H01Q5/50 | 分类号: | H01Q5/50;H01Q7/00;G01R31/00 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 陈炜;李德山 |
| 地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 频率特性 调节 夹具 天线 测试 设备 方法 以及 | ||
提供了频率特性调节夹具、天线测试设备和方法、以及环天线。附接至环天线的频率特性调节夹具包括:导电第一构件,该导电第一构件针对形成环天线的导体的一部分沿环的外周进行定位,并且电磁耦合或电连接至导体的该部分;导电第二构件,该导电第二构件针对导体的另一部分沿环的外周进行定位,并且电磁耦合或电连接至导体的该另一部分;以及导电第三构件,该导电第三构件将第一构件和第二构件经由与沿环形成的路径不同的路径连接在一起。第一构件和第二构件被选择为具有沿环的长度,使得环天线的频率特性根据所述长度而偏移。
技术领域
本文中所讨论的实施例涉及用于调节环天线的频率特性的频率特性调节夹具、使用这样的夹具的天线测试设备和天线测试方法、以及环天线。
背景技术
环天线是本领域已知的各种天线中的一种天线。环天线是下述类型的天线:通过使导体形成为环的形状而构造该天线,并且该天线使导体操作为线圈。提出了用于调节这样的环天线的频率特性的方法以便使环天线能够发射或接收期望频率的无线电波(例如,参照日本公开特许公报2001-160124以及国际公布WO 2012/137330)。
例如,日本公开特许公报2001-160124公开了下述方法:该方法在形成谐振电路的天线的附近放置闭环天线或导体(诸如金属板)或另一谐振电路,以便调节天线的电感并且从而调节谐振电路的谐振频率。
另一方面,国际公布WO 2012/137330提出了下述金属片:该金属片附接至非接触式通信标签,以便使期望频率处的通信距离最大化。金属片包括布置在关于金属片的中心对称的位置处的第一金属部和第二金属部,并且金属片附接至标签,使得第一金属部的一部分和第二金属部的一部分分别接触标签。
发明内容
还已知的是,提供具有三维形状的环天线,使得形成环的导体的、在与环的平面垂直的方向上测量的宽度大于该导体的在环的平面中测量的宽度。然而,在上面引用的日本公开特许公报2001-160124和国际公布WO 2012/137330中公开的技术是用于调节形成为二维形状的环天线的频率特性,并且这些技术均不能应用于具有三维形状的环天线。
因此,本申请的目的是提供一种频率特性调节夹具,其能够调节具有三维形状的环天线的频率特性。
根据一个实施例,提供了一种频率特性调节夹具,所述频率特性调节夹具要附接至包括导体的环天线,所述导体形成为环的形状,使得在与所述环的平面垂直的方向上测量的宽度大于在所述环的平面中测量的宽度,并且所述导体包括在所述环的一部分中形成的馈电点。所述频率特性调节夹具包括:导电第一构件,所述导电第一构件在所述频率特性调节夹具附接至所述环天线时针对所述导体的一部分沿所述环的外周进行定位,并且电磁耦合或者电连接至所述导体的该部分;导电第二构件,所述导电第二构件在所述频率特性调节夹具附接至所述环天线时针对所述导体的另一部分沿所述环的外周进行定位,并且电磁耦合或者电连接至所述导体的该另一部分;以及导电第三构件,所述导电第三构件将所述第一构件和所述第二构件经由与沿所述环形成的路径不同的路径连接在一起。所述第一构件和所述第二构件被选择为具有沿所述环的长度,使得所述环天线的频率特性根据所述长度而偏移。
根据另一实施例,提供了一种环天线。所述环天线包括:导体,所述导体形成为环的形状,使得在与所述环的平面垂直的方向上测量的宽度大于在所述环的平面中测量的宽度,并且所述导体包括在所述环的一部分中形成的馈电点;导电第一构件,所述导电第一构件针对所述导体的一部分沿所述环的外周进行定位,并且所述导电第一构件电磁耦合或电连接到所述导体的该部分;导电第二构件,所述导电第二构件针对所述导体的另一部分沿所述环的外周进行定位,并且所述导电第二构件电磁耦合或电连接至所述导体的该另一部分;以及导电第三构件,所述导电第三构件将所述第一构件和所述第二构件经由与沿所述环形成的路径不同的路径连接在一起。所述第一构件和所述第二构件被选择为具有沿所述环的长度,使得所述环天线的频率特性根据所述长度进行偏移。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士通株式会社,未经富士通株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510547725.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:低剖面宽角扫描波导缝隙阵天线
- 下一篇:PCB波束形成天线





