[发明专利]亮度校正装置、具备亮度校正装置的系统及亮度校正方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示器的亮度校正方法。

背景技术

为了校正LCD或LED显示器的亮度不均匀，目前通过照相机测定的亮度来计算校正系数，并基于该系数进行亮度不均匀的校正。

就有机EL(ElectroLuminescence：电致发光)显示器而言，由于每个像素都具有偏差，所以无法像LCD的校正那样使用使亮度在空间上平缓地变化的校正方法。此外，如果是转用LCD的校正技术的方法，则无法校正每个像素，无法应对显示器的高精细化。并且，虽然LED显示器的每个像素都具有亮度偏差，但是灰度对亮度的特性可以由简单的式子表示，然而在OLED(OrganicLightEmittingDiode：有机发光二极管)中每个像素的该特性都不同。

于是，对于有机EL显示器，提出了将显示器的一部分放大进行拍摄，并一边移动照相机一边测定每个像素的亮度的系统(例如，参照专利文献1)。可是，就专利文献1所公开的技术而言，由于要移动照相机，所以存在进行测定会耗时的问题。此外，还存在校准照相机和显示器会耗时的问题。如果为了得到灰度对亮度的特性而增加测定的灰度数量，则存在更加耗时的问题。因为在拍摄图像上会产生莫尔条纹，所以会进行软件处理，但是在存在相同频率成分的亮度不均匀的情况下，会出现对测定值产生影响的问题。

此外，作为校正有机EL显示器的亮度的方法，还可以考虑监测供给到像素的电流而进行电流校正的系统。可是，该方法具有将专用芯片安装到基板上需要空间的问题，具有无法应用于小型面板的问题。此外，仅通过监测电流无法完全地反映实际亮度，具有无法确认其效果的问题。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2011-170106号公报

发明内容

技术问题

这样，就有机EL显示器而言，如果要对每个像素校正亮度不均匀，则具有耗费测定时间的问题。如果耗费测定时间，则无法在生产现场使用。

于是，本发明的目的在于提供即使对每个像素进行亮度不均匀的校正也不耗费测定时间的有机EL显示器的亮度校正方法。

技术方案

具体地，本发明的亮度校正装置具备：显示控制部，将构成显示器的像素的一个子像素的颜色以在各像素均为共同的灰度且能够分离各像素的图案显示在前述显示器上；处理部，利用依次针对各子像素和多级灰度进行拍摄的图像计算出每个子像素的相对于灰度的亮度特性，其中，前述图像为同时拍摄前述显示器所显示的整个图案的图像；和校正控制部，基于前述处理部求出的亮度特性对前述显示器校正各子像素的亮度特性。

可选地，在本发明的亮度校正装置中，前述显示控制部通过以格子状点亮一个以上的像素并显示在前述显示器上，从而以能够分离的图案将各像素显示在前述显示器上。

具体地，本发明的亮度校正系统具备本发明的亮度校正装置和同时对前述显示器所显示的整个图案进行拍摄，且拍摄图像时依次针对各子像素和多级灰度进行拍摄的照相机。

具体地，本发明的亮度校正方法按顺序具有：拍摄步骤，将构成显示器的像素的一个子像素的颜色以在各像素均为共同的灰度且能够分离各像素的图案显示在前述显示器上，照相机同时对前述显示器所显示的整个图案进行拍摄，拍摄时依次针对各子像素和多级灰度进行拍摄；特性计算步骤，由处理部计算出每个子像素的相对于灰度的亮度特性；和校正步骤，由控制部基于在前述特性计算步骤中求出的亮度特性对前述显示器校正各子像素的亮度特性。

技术效果

根据本发明，能够提供即使对每个像素进行亮度不均匀的校正也不耗费测定时间的有机EL显示器的亮度校正方法。此外，根据本发明，由于能够对每个像素进行亮度不均匀的校正，所以能够减少由于亮度不均匀而无法出厂的有机EL显示器，提高成品率。

附图说明

图1示出本实施方式的亮度校正系统的构成例。

图2示出显示器的第一像素排列例。

图3示出显示器的第二像素排列例。

图4示出关于一个子像素的相对于灰度的亮度特性的一例。

图5示出表示亮度特性的函数L(g)的计算例。

符号说明

10：照相机

20：亮度校正装置

21：处理部

22：存储部

23：控制部

100：显示器

具体实施方式