[发明专利]一种回转轴系正交性测量方法及装置有效
| 申请号： | 201510462936.0 | 申请日： | 2015-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN106705821B | 公开（公告）日： | 2019-05-17 |
| 发明（设计）人： | 宋金城;刘柯;孙增玉;高越;董利军;缪寅宵;郑明珠;陈晓晖 | 申请（专利权）人： | 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院 |
| 主分类号： | G01B7/00 | 分类号： | G01B7/00 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 高尚梅 |
| 地址： | 100076 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 回转 正交 测量方法 装置 | ||
1.一种回转轴系正交性测量装置，其特征在于：该装置包括测量平台(10)、回转机构底座(1)、方位回转轴(2)、U型架(3)、I标准球(4)、俯仰回转轴(5)、II标准球(6)、高精度指示表(7)、指示表支架(8)、指示表底座(9)，回转机构底座(1)固定于测量平台(10)；方位回转轴(2)两端旋转固定于回转机构底座(1)和U型架(3)相连；俯仰回转轴(5)两端旋转固定于U型架(3)U形内部且穿出U型架(3)；I标准球(4)和II标准球(6)与俯仰回转轴(5)两端相连；指示表底座(9)固定于测量平台(10)上；指示表支架(8)固定于指示表底座(9)相对于测量平台(10)另一侧；高精度指示表(7)固定于指示表支架(8)。
2.根据权利要求1所述的一种回转轴系正交性测量装置，其特征在于：所述的I标准球(4)和II标准球(6)通过二维调整机构与俯仰回转轴(5)两端相连。
3.一种回转轴系正交性测量方法，其特征在于：具体包括以下步骤：
步骤一、标准球与俯仰轴线的调整，将高精度指示表(7)接触I标准球(4)表面，回转俯仰回转轴(5)，通过观察高精度指示表(7)数据变化，如果高精度指示表(7)在俯仰回转轴(5)回转过程中读数改变，通过二维调整机构调整该标准球位置，使高精度指示表(7)在俯仰回转轴(5)回转过程中读数不变，此时该标准球球心与俯仰回转轴(5)轴线调整完毕，旋转方位回转轴(2)，将II标准球接触高精度指示表(7)，调整II标准球(6)和俯仰回转轴(5)轴线位置；
步骤二、正交性测量基准确定，移动精度指示表(7)，在I标准球(4)底面或顶面位置附近寻找精度指示表(7)返回点，即找到I标准球最低位置或最高位置，固定精度指示表(7)，并记下指示表读数a1，此时测量基准确定完毕；
步骤三、轴线正交性测量，将方位回转轴(2)转动180°，使II标准球(6)与I标准球(4)位置对调，移动精度指示表(7)，寻找II标准球的返回点，即找到II标准球最低位置或最高位置，记录指示表读数a2，得到方位回转轴和俯仰回转轴的线性尺寸误差和角度误差。
4.根据权利要求3所述的一种回转轴系正交性测量方法，其特征在于：所述步骤三中，方位回转轴和俯仰回转轴的线性尺寸误差为：。
5.根据权利要求3所述的一种回转轴系正交性测量方法，其特征在于：所述步骤三中，方位回转轴和俯仰回转轴的角度误差公式为：L为两标准球之间沿回转轴线的距离。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院，未经北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510462936.0/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
