[发明专利]基于死区时间测量的平均波形捕获率测试方法

权利要求书

1.一种基于死区时间测量的平均波形捕获率测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：生成斜坡信号或对称三角波信号作为测试基础信号，测试基础信号的持续时间为T，测试基础信号的最大幅值与最小幅值的差值记为S；

S2：生成触发信号，其频率g超过被测数字三维示波器标称的最大波形捕获率；

S3：根据测试基础信号和触发信号对数字三维示波器进行触发参数设置，并设置数字三维示波器的水平刻度到最快实时采样档或给定的最高波形捕获率状态，其对应的捕获时间记为h；显示方式为点显示、无限余辉；存储深度为最小值；

S4：分别采用延迟时间τ_k对测试基础信号进行延时，得到K个测试信号，其中，k的取值范围为1≤k≤K，K表示测试信号的数量；并且τ_k＞τ_k-1，τ₀＝0，对于每个测试信号，分别按照以下步骤得到对应的死区时间：

向数字三维示波器同时输入触发信号和测试信号，数字三维示波器在触发信号的作用下，以最高波形捕获率对测试信号进行采集；经过预设的测试时间τ_k+T后，触发信号关闭，测量数字三维示波器显示的每个捕获波形的垂直起始电压，将相同斜率的波形作为一组，按照垂直方向的顺序记各个波形的垂直起始电压为其中i表示测试信号的分段序号，i取值范围为1≤i≤M，M表示捕获波形的分组数，j表示第i段捕获的第j个波形；计算两个相邻捕获波形的死区时间

dij,j+1=(vij+1-vij)TMS-h]]>

S5：汇总记录所有测试信号得到的死区时间，得到死区时间集合D＝{D₁,D₂,…,D_Q}，Q表示死区时间的数量，D_q表示第q个死区时间，q的取值范围为1≤q≤Q；然后计算所有捕获波形的平均死区时间计算公式为：

D‾=1QΣq=1QDq]]>

S6：计算数字示波器的平均捕获波形捕获率W，计算公式为：

W=1D‾+h.]]> 1