[发明专利]一种测试装置、测试方法及显示系统

说明书

本发明提供一种测试装置，其包括安全数码卡、现场可编程门阵列及存储单元。安全数码卡用于存储编码数据。现场可编程门阵列与安全数码卡连接，用于读取安全数码卡中存储的编码数据，并将编码数据进行压缩处理。存储单元与现场可编程门阵列连接，用于将现场可编程门阵列压缩后的编码数据进行缓存，且存储单元包括多个存储器。其中，现场可编程门阵列还用于调用多个存储器中缓存的压缩后的编码数据，并将压缩后的编码数据进行解压缩及解码处理，以输出测试信号。本发明还提供一种显示系统及测试方法。本发明测试装置、显示系统及测试方法利用现场可编程门阵列对编码数据进行压缩处理，数据处理及运算速度快，提高了数据传输的效率及处理器的利用率。

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种测试装置、采用所述测试装置的显示系统及一种测试方法。

背景技术

随着显示技术的迅速发展，出现了液晶显示(Liquid Crystal Display，LCD)技术，且其被广泛应用各种领域，如手机、电脑、及其他各种有显示需求的设备、仪器。

目前，现有2k即2560＊1440分辨率以下的液晶模组图片显示测试装置，大部分使用进阶精简指令集机器(Advanced RISC Machines，ARM)作为驱动芯片。因为ARM芯片内部集成了液晶显示、图片解码等模块，大大的简化了编程的复杂性，所以使用ARM作为液晶模组显示驱动芯片受到大部分人欢迎。然而，ARM的数据处理、运算速度远远落后于现场可编程门阵列(Field－Programmable Gate Array，FPGA)，而且使用ARM芯片对于目前液晶显示领域来说，其大部分功能没有被使用到，这无疑也是一种资源的浪费。

因此，需要提供一种测试装置，该测试装置包括数据处理以及运算速度高的驱动芯片，其可以解决上述现有技术中存在的问题。

发明内容

鉴于以上问题，本发明提供一种测试装置，其数据处理及运算速度高，用时少，且利用率高。

本发明提供的一种测试装置，用于输出测试信号至显示设备，以判断所述显示设备是否能正常显示，所述测试装置包括安全数目卡、现场可编程门阵列及存储单元。所述安全数码卡用于存储编码数据。所述现场可编程门阵列与所述安全数码卡连接，用于读取所述安全数码卡中存储的所述编码数据，并将所述编码数据进行压缩处理。所述存储单元与所述现场可编程门阵列连接，用于将所述现场可编程门阵列压缩后的编码数据进行缓存，且所述存储单元包括多个存储器。其中，所述现场可编程门阵列还用于调用所述多个存储器中缓存的所述压缩后的编码数据，并将所述压缩后的编码数据进行解压缩及解码处理，以输出所述测试信号。

进一步地，所述压缩后的编码数据为像素的基准亮度值信息以及其亮度值与所述基准亮度值相同的像素的位置信息。

进一步地，所述像素的基准亮度值包括多个不同的像素亮度值。

进一步地，所述多个存储器的数目为两个，所述存储器为同步动态随机存储器。

进一步地，所述测试装置还包括时钟与复位模块，所述时钟与复位模块和所述安全数码卡、所述现场可编程门阵列、所述第一存储器及所述第二存储器连接并提供工作所需的时钟信号。

本发明还提供一种显示系统，所述显示系统包括显示模组及如上所述的测试装置。所述显示模组用于接收所述现场可编程门阵列输出的测试信号，并输出显示画面。

进一步地，所述显示模组为液晶显示器。

本发明还提供一种测试方法，所述测试方法用于输出测试信号至显示设备，以判断所述显示设备是否能正常显示，所述测试方法包括步骤：将编码后的数据进行存储；读取编码数据，并将所述编码数据进行压缩处理；将压缩后的编码数据进行缓存；调用所述压缩后的编码数据，并将所述压缩后的编码数据进行解压缩及解码处理，以输出所述测试信号。