[发明专利]半导体激光器离线测试方法

权利要求书

1.一种半导体激光器离线测试方法，其特征在于，各待测试半导体激光器与各测试装置一一对应安装在测试平台上，所述各测试装置中分别包含电源模块，以对所述各测试装置供电，所述各测试装置通过数据总线与控制主机电连接；

所述方法包括：

所述测试装置接收所述控制主机通过所述数据总线发送的测试指令，所述测试指令中包括各待测试参数；

所述测试装置断开与所述控制主机间的电连接，并控制所述测试装置上分别与所述各待测试参数对应的传感器对所述测试装置对应的待测试半导体激光器的所述各待测试参数分别进行参数数据采集；

所述测试装置对采集到的所述参数数据进行数据处理，并本地存储处理结果；

所述测试装置在测试完成时断开与对应的待测试半导体激光器间的电连接；

所述测试装置接收所述控制主机发送的读取指令，并根据所述读取指令向所述控制主机发送所述处理结果，以使所述控制主机对所述处理结果进行分析处理并存储分析处理结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试装置根据所述读取指令向所述控制主机发送所述处理结果之后，还包括：

所述测试装置删除本地存储的所述处理结果。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试指令中还包括测试控制参数，所述测试控制参数包括总测试时间、测试时间间隔、测试档位、脉冲测试方式、连续测试方式中的至少一个控制参数；

所述测试装置控制所述测试装置上分别与所述各待测试参数对应的传感器对所述测试装置对应的待测试半导体激光器的所述各待测试参数分别进行参数数据采集，包括：

所述测试装置控制所述测试装置上分别与所述各待测试参数对应的传感器根据所述测试控制参数对所述测试装置对应的待测试半导体激光器的所述各待测试参数分别进行参数数据采集。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试指令中还包括与所述各待测试参数中至少一个待测试参数对应的参数报警值；

所述测试装置对采集到的所述参数数据进行数据处理，并存储处理结果之后，还包括：

所述测试装置确定采集到的所述参数数据中是否存在数据值大于对应的参数报警值的异常参数数据；

若存在数据值大于对应的参数报警值的异常参数数据，则所述测试装置关联记录对应的待测试半导体激光器的标识和所述异常参数数据，并断开与对应的待测试半导体激光器间的电连接；

相应的，所述测试装置根据所述读取指令向所述控制主机发送所述处理结果，包括：

所述测试装置向所述控制主机发送所述标识和所述异常参数数据。

5.根据权利要求1至4中任一所述的方法，其特征在于，所述测试装置对采集到的所述参数数据进行数据处理，包括：

所述测试装置对采集到的所述参数数据依次进行滤波、放大、模数转换、校准处理。

6.根据权利要求1至4中任一所述的方法，其特征在于，所述分析处理结果包括：最值、均值和均方差中的至少一个。

7.根据权利要求1至4中任一所述的方法，其特征在于：

所述各待测试参数包括：工作电压、工作电流、工作温度、输出光功率；

所述与所述各待测试参数分别对应的参数报警值包括：与所述工作电压对应的电压报警值、与所述工作电流对应的电流报警值、与所述工作温度对应的温度报警值、与所述输出光功率对应的功率报警值。