[发明专利]一种同轴度检测方法

权利要求书

1.一种同轴度检测方法，其特征在于，包括：

利用标准工件对转轴校正；

将待检测工件的一端孔套设在校正后的转轴(41)上，使所述待检测工件的另一端孔内壁测量圆P₁某一圆周上的测量点与转轴(41)校正后位置固定的测量表(11)探头接触；

根据测量表(11)的指针的指向判断所述待检测工件的两端孔是否同轴，若测量表(11)的指针仍指向零位，则待检测工件两端孔同轴；若测量表(11)的指针指向偏离零位，则待检测工件两端孔存在同轴度误差；

所述利用标准工件对转轴(41)校正的步骤中，包括如下步骤：

将标准工件的一端孔套设在转轴(41)上，并使测量表(11)的探头与标准工件的另一端孔的内壁测量圆P₀某一圆周上的测量点接触；

观察测量表(11)的指针指向，若测量表(11)的指针指向零位，则代表转轴(41)与测量表(11)在竖直方向上的轴线平行，此时，取下标准工件，完成转轴(41)的校正；

若测量表(11)的指针指向偏离零位，则通过调节装置调节转轴(41)的横向和/或纵向位置，在测量表(11)的指针指向零位时取下标准工件，完成转轴(41)的校正。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当待检测工件两端孔存在同轴度误差时，还包括：

分别使测量表(11)探头与标准工件一端孔内壁测量圆P₀的同一圆周上的至少三个测量点接触；

分别对转轴(41)进行校正，并记录转轴(41)校正后各个测量点的位置坐标(X_0i,Y_0i)；

根据各个测量点的位置坐标(X_0i,Y_0i)计算得到测量圆P₀的圆心坐标(X_p0,Y_p0)；

对应于转轴(41)校正后的测量圆P₀同一圆周上的至少三个测量点的位置，使测量表(11)探头与待检测工件一端孔内壁测量圆P₁的同一圆周上的至少三个测量点接触，并在测量表(11)的指针分别再次指向零位时，分别记录各个测量点的位置坐标(X_1i,Y_1i)，

根据位置坐标(X_1i,Y_1i)计算得到测量圆P₁的圆心坐标(X_p1,Y_p1)；

根据测量圆P₀的圆心坐标(X_p0,Y_p0)和测量圆P₁的圆心坐标(X_p1,Y_p1)得到待检测工件两端孔的同轴度误差L。

3.根据权利要求1或2所述的一种同轴度检测方法，其特征在于：将待检测工件的一端孔套设在校正后的转轴(41)上的步骤中，通过调节装置调节转轴(41)的横向和/或纵向位置，使所述待检测工件的另一端孔内壁测量圆P₁某一圆周上的测量点与转轴(41)校正后位置固定的测量表(11)探头接触。

4.根据权利要求1或2所述的一种同轴度检测方法，其特征在于：当待检测工件两端孔存在同轴度误差时，对应于转轴(41)校正后的测量圆P₀同一圆周上的至少三个测量点的位置，通过调节装置使测量表(11)探头与待检测工件一端孔内壁测量圆P₁的同一圆周上的至少三个测量点接触；并通过调节装置调节转轴(41)的横向和/或纵向位置，使测量表(11)的指针分别再次指向零位时，分别记录各个测量点的位置坐标(X_1i,Y_1i)。

5.根据权利要求4所述的一种同轴度检测方法，其特征在于：在标准工件的测量圆P₀，以及待检测工件的测量圆P₁上均选取四个测量点，其中两个测量点为分布在测量圆水平方向直径上的两端点，另外两个测量点为分布在测量圆竖直方向直径上的两端点。