[发明专利]一种物体光学特性测量装置有效
| 申请号： | 201510170696.7 | 申请日： | 2015-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN104792710B | 公开（公告）日： | 2018-08-03 |
| 发明（设计）人： | 潘建根;黄英 | 申请（专利权）人： | 杭州远方光电信息股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310053 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光源 温度控制装置 光测量装置 物体光学 测量 反馈调节机制 特性测量装置 电参数监测 电参数控制 应用范围广 测试 光源稳定 监测结果 时间窗口 稳定输出 信号采集 电参数 发光 修正 监测 配置 配合 | ||
1.一种物体光学特性测量装置，其特征在于，包括光源组(1)、光测量装置(2)和光源电参数监测装置(3)，所述的光源组(1)发出特定光谱的光线并照射到被测样品(4)上，光测量装置(2)接收来自光源组(1)并经被测样品(4)作用后的光线，光源电参数监测装置(3)监测光源组(1)中光源的工作电参数，所述的光测量装置(2)为光谱辐射测量模块，所述的光源电参数监测装置(3)监测光源组(1)中光源的工作电参数，根据光源电参数与光源发光光谱的依赖关系，推算出光源的实际发光光谱，并修正光测量装置(2)的测量结果。
2.如权利要求1所述的物体光学特性测量装置，其特征在于，所述的光源组(1)中至少包括一个LED光源(11)。
3.如权利要求1或2所述的物体光学特性测量装置，其特征在于，所述的光源组(1)至少包含一个LED白光源(11-1)和一个LED独立补光源(11-2)，所述的LED白光源(11-1)和LED独立补光源(11-2)组合发光形成所需的光线照射至被测样品(4)上。
4.如权利要求1所述的物体光学特性测量装置，其特征在于，所述的光源组(1)包括一个以上独立窄波源，所述的一个以上独立窄波源发出分立的窄波段光谱，利用窄波段光谱校正光源组(1)的组合波段光谱。
5.如权利要求2所述的物体光学特性测量装置，其特征在于，所述的光源组(1)中的LED光源(11)采用恒流驱动。
6.如权利要求1或2所述的物体光学特性测量装置，其特征在于，还包括温度控制装置(5)，所述的温度控制装置(5)设置在光源组(1)上，所述的温度控制装置(5)利用LED光源结电压与结温的关联关系控制LED光源的工作温度。
7.如权利要求6所述的物体光学特性测量装置，其特征在于，所述的光源电参数监测装置(3)与温度控制装置(5)电连接，温度控制装置(5)根据光源电参数监测装置(3)测得的光源电参数信息以制冷或者加热的方式控制光源的工作温度。
8.如权利要求1所述的物体光学特性测量装置，其特征在于，所述的光源电参数监测装置(3)监测光源组(1)中光源的工作电参数，根据光源电参数与光源发光光谱的依赖关系，推算出光源的实际发光光谱，并修正光测量装置(2)的测量结果。
9.如权利要求1或2所述的物体光学特性测量装置，其特征在于，所述的光源电参数监测装置(3)监测光源组(1)中LED光源的工作电参数，根据LED光源电参数与LED光源结温以及LED光源发光光谱的依赖关系，推算LED光源的实际发光光谱，并修正光测量装置(2)的测量结果。
10.如权利要求1所述的物体光学特性测量装置，其特征在于，所述的光测量装置(2)为光谱辐射计。
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