[发明专利]通过功率MOSFET的分裂栅极中的贯穿多晶硅接头实现分裂多晶硅连接有效

专利信息
申请号: 201510155606.7 申请日: 2015-04-02
公开(公告)号: CN105047697B 公开(公告)日: 2019-03-15
发明(设计)人: 李亦衡;雷燮光;金钟五;常虹;马督儿·博德;管灵鹏;哈姆扎·耶尔马兹 申请(专利权)人: 万国半导体股份有限公司
主分类号: H01L29/40 分类号: H01L29/40;H01L21/28;H01L21/336
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 吴俊
地址: 美国加利福尼亚州940*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 通过 功率 mosfet 分裂 栅极 中的 贯穿 多晶 接头 实现 连接
【说明书】:

一种通过功率MOSFET的分裂栅极中的贯穿多晶硅接头实现分裂多晶硅连接。本发明提出了一种在分裂栅极沟槽晶体管器件中的接触结构,用于连接沟槽内的顶部电极和底部电极。包括一个半导体衬底以及形成在半导体衬底中的一个或多个沟槽。沿沟槽内部侧壁,沟槽内衬绝缘材料。在每个沟槽底部都有一个底部电极,在每个沟槽顶部都有一个顶部电极。底部电极和顶部电极通过绝缘材料分隔开。用导电材料填充的接触结构形成在器件有源区以外的区域中的每个沟槽中,以便连接顶部电极和底部电极。

技术领域

本发明主要关于半导体功率器件,更确切地说,主要是关于带有分裂栅极的沟槽型功率MOSFET及其制备方法,通过基于功率MOSFET的分裂栅极中的贯穿多晶硅接头TPC实现分裂多晶硅连接。

背景技术

功率金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)因其具有低栅极驱动功率、高切换速度以及出色的并联性能,通常被用于功率切换器件。大多数的功率MOSFET的特点是配置为垂直结构,将源极区和漏极区分别对应设置在栅极沟槽的对边上,以及栅极沟槽用多晶硅等导电材料来填充,以作为栅极电极。在这种器件结构中,功率MOSFET器件的电流通道沿沟槽的垂直侧壁形成。以及沟槽式的MOSFET器件的一种常规结构所包括的栅极沟槽中,在沟槽底部内衬较厚的氧化物,在沟槽顶部内衬较薄的氧化物。因此,氧化物呈阶梯式结构,其厚度呈阶梯式分布。阶梯式栅极结构中的沟槽底部氧化物相对较厚,可以使器件的击穿电压增大。

近些年来,人们还研发出了分裂式的栅极沟槽结构,用于在特殊应用场合中代替传统的沟槽式MOSFET。带有分裂栅极的沟槽式功率MOSFET主要包括设置在栅极沟槽中的上下设置的两个电极。其中第一电极作为栅极电极,主要控制着MOSFET的电流通道的形成,与此同时另一个第二电极则主要作为屏蔽电极,位于第一电极下的正下方,例如可以降低漏极电极和栅极电极之间的寄生电容Cgd。通常来说,一般在自对准工艺中制备栅极电极和屏蔽电极,可以利用一个单独掩膜,制成一组沟槽,用于容纳制备的栅极电极和屏蔽电极。由于屏蔽电极处于源极电势,通常延伸到衬底的表面,进而耦合到位于功率MOSFET边缘处的终端区的拾取结构,从而增大了源极电极电阻。另外,如果要形成这种方式的连接,还需要额外的掩膜,这会导致增加了制造成本。正是在这一前提下,提出了本发明的各个实施例。

发明内容

在本发明提供的一种晶体管器件中,主要包括:一个半导体衬底;一个或多个形成在半导体衬底中的沟槽,每个沟槽都沿沟槽内部侧壁及底面内衬有绝缘材料,在每个沟槽底部都设置有底部导电材料,在每个沟槽顶部则都设置有顶部导电材料,其中底部导电材料和顶部导电材料被中间电极绝缘层分隔开;以及多个接触结构分别形成在器件的有源区以外的区域中的一个或多个沟槽中,每个接触结构都用导电材料填充,其中每个接触结构都穿过一部分顶部导电材料以及顶部导电材料以下的中间电极绝缘层,到达底部电极。

上述的晶体管器件,还包括配置的一个或多个使顶部导电材料断开的绝缘结构,例如一个顶部导电材料中的绝缘结构将该顶部导电材料从绝缘结构处实施物理/电性截断开从而使该顶部导电材料被分割成互不电性连接的若干部分,实现使一部分顶部导电材料与底部导电材料分隔绝缘,例如一个顶部导电材料中被绝缘结构截断但与接触结构短接互连的那一部分仍然可以通过接触结构与底部导电材料互连,但顶部导电材料中被绝缘结构截断但与接触结构不再互连的剩余另一部分则与底部导电材料电性绝缘。

上述的晶体管器件,一个或多个绝缘结构形成在接触结构附近,并用绝缘材料填充。

上述的晶体管器件,每个接触结构都可以用导电材料填充,在一些实施例中譬如用金属钨、多晶硅和/或其他除了钨、多晶硅以外的导电材料填充。

上述的晶体管器件,沿着每个沟槽顶部侧壁内衬的绝缘材料,其厚度都小于沿着沟槽底部侧壁内衬的绝缘材料的厚度。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于万国半导体股份有限公司,未经万国半导体股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510155606.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top