[发明专利]一种灰度增强层析PIV重构方法、装置和设备

权利要求书

1.一种灰度增强层析粒子图像测速PIV重构方法，其特征在于，该方法包括：

A、在完成倍增代数重构技术MART迭代后，统计空间灰度场中的粒子拉长比；所述粒子拉长比为三维空间坐标z方向粒子拉长的初始直径与粒子图像直径的比值；

B、依据所述粒子拉长比确定逆扩散强度因子，并依据所述逆扩散强度因子和逆扩散方程更新所述空间灰度场；

C、依据统计得到的粒子浓度计算灰度抑制因子，并依据所述灰度抑制因子对所述已更新的空间灰度场的粒子灰度进行重新分配；

之后进行下一次MART迭代。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述统计空间灰度场中粒子拉长比，包括：

在空间灰度场中采用局部峰值的方法识别粒子，并对这些粒子的灰度做统计平均得到所有粒子灰度的平均结果；对该结果进行三维高斯拟合，得到所述空间灰度场各方向的高斯拟合的标准差，依据所述标准差计算所述粒子拉长比。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述三维高斯拟合按照如下公式进行：

I(x,y,z)=I0exp[-(x-x0)2(1/8)dτx2-(y-y0)2(1/8)dτy2-(z-z0)2(1/8)dτz2];]]>

其中，所述x,y,z代表重构体的三维空间坐标，z为重构体厚度方向，x₀,y₀,z₀代表粒子中心的物理位置，I代表单个粒子的灰度，I₀代表粒子中心的灰度值，d_τx,d_τy,d_τz为x,y,z方向粒子拉长的初始直径。