[发明专利]飞行时间质谱分析装置有效
| 申请号: | 201480084278.X | 申请日: | 2014-12-24 |
| 公开(公告)号: | CN107112195B | 公开(公告)日: | 2018-10-26 |
| 发明(设计)人: | 古桥治 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号: | H01J49/40 | 分类号: | H01J49/40 |
| 代理公司: | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人: | 肖华 |
| 地址: | 日本京都府京都*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 飞行 时间 谱分析 装置 | ||
1.一种飞行时间质谱分析装置,其具备:线性离子阱,它是以围绕中心轴的方式配置多个杆电极而成,将离子捕捉至由该多个杆电极围成的空间内;飞行时间质谱分析仪,其具有使离子飞行的无电场区域和对离子进行反射的离子反射器;以及检测器,其检测离子,该飞行时间质谱分析装置将已捕捉至所述离子阱的内部空间的离子朝与该离子阱的中心轴正交的方向射出而导入至所述飞行时间质谱分析仪,并将由该飞行时间质谱分析仪根据质荷比加以分离后的离子导入至所述检测器来进行检测,该飞行时间质谱分析装置的特征在于,
所述离子反射器具有将具有长方形状或狭缝状的开口的平板电极沿与该平板电极的展开面正交的轴排列多个的构成,
该飞行时间质谱分析装置以沿所述平板电极的开口的长边方向的该开口的中心线位于包含以下直线和中心轴线的平面上的方式配置所述离子阱、所述离子反射器及所述检测器而成,该直线是连结所述离子阱的离子捕捉空间内的离子分布的重心位置与所述检测器的检测面上的规定位置的直线,该中心轴线是存在于所述离子分布的重心位置的离子的射出方向的中心轴线,
并且,所述离子阱和所述离子反射器被配置以使得所述离子反射器中的所述平板电极的所述开口的所述长边方向的中心线位于与所述离子阱的所述中心轴的延伸方向正交且包含用于从所述离子阱射出离子的射出方向的所述中心轴线的平面内。
2.根据权利要求1所述的飞行时间质谱分析装置,其特征在于,
所述离子反射器的中心轴上的电位分布的至少一部分为非线性形状。
3.一种飞行时间质谱分析装置,其具备:线性离子阱,它是以围绕中心轴的方式配置多个杆电极而成,将离子捕捉至由该多个杆电极围成的空间内;飞行时间质谱分析仪,其具有使离子飞行的无电场区域和对离子进行反射的离子反射器;以及检测器,其检测离子,该飞行时间质谱分析装置将已捕捉至所述离子阱的内部空间的离子朝与该离子阱的中心轴正交的方向射出而导入至所述飞行时间质谱分析仪,并将由该飞行时间质谱分析仪根据质荷比加以分离后的离子导入至所述检测器来进行检测,该飞行时间质谱分析装置的特征在于,
所述离子反射器具有将具有长方形状或狭缝状的开口的平板电极沿与该平板电极的展开面正交的轴排列多个的构成,
该飞行时间质谱分析装置以沿所述平板电极的开口的长边方向的该开口的中心线位于包含以下直线和中心轴线的平面上的方式配置所述离子阱、所述离子反射器及所述检测器而成,该直线是连结所述离子阱的离子捕捉空间内的离子分布的重心位置与所述检测器的检测面上的规定位置的直线,该中心轴线是存在于所述离子分布的重心位置的离子的射出方向的中心轴线,
并且,所述离子阱和所述离子反射器被配置以使得与所述离子阱的所述中心轴的延伸方向和用于从所述离子阱射出离子的射出方向的所述中心轴线的延伸方向都正交的方向与所述离子反射器中的所述平板电极的所述开口的所述长边方向一致。
4.根据权利要求3所述的飞行时间质谱分析装置,其特征在于,
所述离子反射器的中心轴上的电位分布的至少一部分为非线性形状。
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