[发明专利]目标质量分析有效
| 申请号: | 201480049941.2 | 申请日: | 2014-09-10 |
| 公开(公告)号: | CN105531794B | 公开(公告)日: | 2018-01-23 |
| 发明(设计)人: | A·A·马卡罗夫 | 申请(专利权)人: | 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司 |
| 主分类号: | H01J49/00 | 分类号: | H01J49/00 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人: | 蔡悦 |
| 地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 目标 质量 分析 | ||
1.一种质谱仪,其包括:
离子源,其经布置以产生具有质荷比比率的初始范围的离子;
辅助离子检测器,其位于所述离子源的下游,且经布置以接收从由所述离子源产生的所述离子得出的多个第一离子样本且确定所述多个第一离子样本中的每一者的相应离子电流测量值,所述第一离子样本具有比所述质荷比比率的初始范围窄的质荷比比率的经减少范围;
质量分析仪,其位于所述离子源的下游,且经布置以接收从由所述离子源产生的所述离子得出的第二离子样本且通过所述第二离子样本的质量分析而产生质谱数据,其中所述质谱数据的质量分辨率高于所述辅助离子检测器的质量分辨率;以及
输出级,其经配置以基于由所述质量分析仪产生的所述质谱数据与由所述辅助离子检测器确定的所述离子电流测量值的组合而建立与由所述离子源产生的所述离子中的至少一些相关联的丰度测量值,其中所述质谱数据被用于解析所述质荷比比率的经减少范围内的所述离子电流测量值。
2.根据权利要求1所述的质谱仪,其中所述辅助离子检测器经配置以在一时间周期中提供多个所述离子电流测量值,其中所述质量分析仪经布置以在所述时间周期中产生质谱数据的单个集合。
3.根据权利要求1或权利要求2所述的质谱仪,其中所述辅助离子检测器经配置以具有高于所述质量分析仪的质量分析的平均频率的离子电流测量的平均频率。
4.根据权利要求3所述的质谱仪,其中所述辅助离子检测器经配置以在多个所述离子电流测量值之间具有时间间隔的情况下确定所述多个离子电流测量值,且其中所述质量分析仪经配置以在长于所述多个离子电流测量值之间的所述时间间隔的持续时间中执行所述第二离子样本的质量分析。
5.根据权利要求1-2、4中任一项所述的质谱仪,其进一步包括:
质量过滤器,其布置于所述辅助离子检测器的上游,且经配置以接收由所述离子源产生的离子且发射具有所述质荷比比率的经减少范围的离子;且
其中所述第一离子样本和第二离子样本是从由所述质量过滤器发射的所述离子得出。
6.根据权利要求1-2、4中任一项所述的质谱仪,其进一步包括:
碰撞单元,其位于所述离子源的下游。
7.根据权利要求6所述的质谱仪,其中所述碰撞单元经布置以从由所述离子源产生的所述离子中的至少一些产生片段离子。
8.根据权利要求1所述的质谱仪,其进一步包括:
离子光学器件,其位于所述离子源的下游,且经配置以选择性控制所接收离子的路径以使得所述所接收离子在第一模式中被引导,在所述第一模式中,所接收离子被朝向所述辅助离子检测器引导。
9.根据权利要求8所述的质谱仪,其中所述离子光学器件经配置以使得所述所接收离子在第一方向上进入所述离子光学器件,且在所述第一模式中在第二方向上被引导到所述辅助离子检测器,所述第二方向不同于所述第一方向。
10.根据权利要求9所述的质谱仪,其中所述第二方向正交于所述第一方向。
11.根据权利要求10所述的质谱仪,其中所述辅助离子检测器包括转换打拿极和次级电子倍增管,所述转换打拿极沿着所述第二方向位于所述离子光学器件的第一侧上且所述次级电子倍增管位于所述离子光学器件的与所述第一侧相对的第二侧上且经配置以从所述转换打拿极接收次级电子。
12.根据权利要求8到11中任一权利要求所述的质谱仪,其中所述离子光学器件包括四极离子导引件。
13.根据权利要求12所述的质谱仪,其中所述四极离子导引件包括四个棒电极,所述四个棒电极中的每一者的外径小于所述四个棒电极之间的间隙中的任一者。
14.根据权利要求8到11中任一权利要求所述的质谱仪,其进一步包括:
碰撞单元,其位于所述离子光学器件的下游;且
其中所述离子光学器件进一步经配置以选择性控制所接收离子的路径以使得所述所接收离子在第二模式中被引导,在所述第二模式中,所接收离子被朝向所述碰撞单元引导。
15.根据权利要求8到11中任一权利要求所述的质谱仪,其中所述离子光学器件进一步经配置以选择性控制所接收离子的路径以使得所述所接收离子在第二模式中被引导,在所述第二模式中,所接收离子被朝向所述质量分析仪引导。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于塞莫费雪科学(不来梅)有限公司,未经塞莫费雪科学(不来梅)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201480049941.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:研磨垫的评价方法及晶圆的研磨方法
- 下一篇:电解电容器和环氧树脂组合物





