[发明专利]积层体

说明书

技术领域

本申请涉及一种基膜、积层体以及形成偏光膜的方法。

背景技术

将二色性材料吸附并定向到聚乙烯醇类树脂(以下称作“PVA树脂”)中来形成偏光膜的方法是众所周知的。偏光膜的代表性用途为显示设备，例如液晶显示器(LCD)。例如，厚度为约60至80μm的PVA树脂类偏光膜被粘贴到LCD液晶面板的两面。

PVA树脂是亲水性的。因此，偏光膜对温度或湿度的变化敏感，容易伸长或收缩，并且容易有缺陷，例如卷曲。因此，为了抑制伸长和收缩以及减少温度和湿度的影响，通常把保护膜粘贴到PVA树脂偏光膜的两面。然而，当偏光膜具有较大厚度时则难以抑制伸长和收缩，并且当偏光膜被粘贴到液晶面板等时会引起应力，可能在设备上产生污渍。此外，近来，对薄型设备或低耗能设备的需求增加，并且对薄偏光膜的需求也在增加。

例如，专利文件1公开了一种形成薄偏光膜的方法。

现有技术文件

专利文件

专利文件1：韩国专利第1175700号。

发明内容

发明目的

本申请旨在提供一种基膜，积层体以及形成偏光膜的方法。

技术方案

本申请的一个方面提供一种基膜。一种示例的基膜例如，可以是一种在延伸可显示偏光功能的材料例如PVA树脂的处理中使用的膜(以下称作“延伸膜”或“延伸基膜”)。此处，如图1所示，可以通过在基膜101的一个或两个表面上堆叠包含由于延伸而能显示出偏光功能的材料的层102(以下称作“偏光材料层”)形成积层体100并延伸该积层体来进行延伸处理。

为了更有效地进行这样的延伸处理，并最终得到高功能的薄偏光膜，可以在考虑到被共同延伸的偏光材料层的情况下来确定基膜的特性。

此时，基膜的特性可以包括，例如，可以通过拉伸试验而测定的各种物理性质。在拉伸试验中所确定的拉伸曲线通常可以被划分为表示伸长(mm)与所施加的负载的关系的负载-伸长曲线；以及显示工程应变与工程应力关系的应力-应变曲线。除非另外特别定义，否则在本说明书中定义的特性可以由后者，即，表示工程应变与工程应力关系的应力-应变曲线确定。

在本申请中，通过下面的方法说明拉伸曲线。首先，将待测拉伸曲线的样本制备成15mm×70mm(宽度×长度)的大小。样本的宽度和长度为用于延伸的长度，排除了固定于拉伸试验机的部分。接着，将样本固定于拉伸试验机中，在室温以约300mm/min的拉伸速度在纵向方向上拉伸直到样本断裂为止，然后图示出到该样本断裂为止的距离对所测定的力的图(X轴：距离，Y轴：力)。接着，应用样本的面积与厚度，将该图转换为伸长率对拉伸强度的图(X轴：伸长率，Y轴：拉伸强度)，待描述的各拉伸特性可以从该转换的图来测定。此处使用的术语“室温”是未提高或降低的自然温度，可以是约10至30℃、约25℃、或约23℃。此外，除非另外具体定义，否则物理性质对应于室温下测得的物理性质。

例如，可以选择所述基膜以使得以相同方法测定的拉伸曲线的积分值(A)与所述偏光材料层的积分值(B)的差(A-B)的绝对值在1,500Nmm至10,000Nmm范围内。在另一个实施例中，所述差的绝对值可以为约2,000Nmm以上、2,500Nmm以上、3,000Nmm以上、3,500Nmm以上、或4,000Nmm以上。此外，在另一个实施例中，所述差的绝对值可以为约9,000Nmm以下、8,000Nmm以下、7,000Nmm以下、或6,500Nmm以下。

例如，可以选择所述基膜以使得所述基膜的拉伸强度与所述偏光材料层的拉伸强度的差的绝对值在约0.5MPa至40MPa的范围内。其中，所述拉伸强度是指将在所述拉伸试验中样本断裂时的最大拉伸负载除以该样本延伸前的截面积所得到的值。

例如，可以选择所述基膜以使得所述基膜的伸长率与所述偏光材料层的伸长率的差的绝对值在15％至500％的范围内。在另一个实施例中，所述差的绝对值可以为20％以上。此外，在另一个实施例中，所述差的绝对值可以为400％以下、300％以下、200％以下、或160％以下。

例如，可以选择所述基膜以使得所述基膜的屈服点与所述偏光材料层的屈服点的差的绝对值在1MPa至50MPa的范围内。在另一个实施例中，所述差的绝对值可以为3MPa以上或5MPa以上。此外，在另一个实施例中，所述差的绝对值可以为45MPa以下、40MPa以下、或35MPa以下。