[实用新型]一种用于粗晶材质大曲率工件检查的超声双晶纵波斜探头有效
| 申请号: | 201420869157.3 | 申请日: | 2014-12-30 |
| 公开(公告)号: | CN204594939U | 公开(公告)日: | 2015-08-26 |
| 发明(设计)人: | 何海;周礼峰;蔡家藩;丁冬平;邱进杰;张益成 | 申请(专利权)人: | 中核武汉核电运行技术股份有限公司;核动力运行研究所 |
| 主分类号: | G01N29/24 | 分类号: | G01N29/24;G01N29/04 |
| 代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 吕岩甲 |
| 地址: | 430223 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 材质 曲率 工件 检查 超声 双晶 纵波 探头 | ||
1.一种用于粗晶材质大曲率工件检查的超声双晶纵波斜探头,其特征在于:包括探头组件和探头内芯;探头组件包括探头本体(1)、探头壳(2)、探头压板(3)、堵头(4)、压缩弹簧(5);探头本体(1)为圆柱形结构,周向均布有三个与探头壳(2)匹配的槽,探头壳(2)安装于槽中,探头壳(2)通过压缩弹簧(5)自动向外弹出;堵头(4)安装在探头本体(1)内部空腔前端;探头压板(3)通过螺钉固定于探头本体(1)上,用于限制探头壳(2)向外弹出的行程;每个探头壳(2)内至少包括一个探头内芯。
2.根据权利要求1所述的用于粗晶材质大曲率工件检查的超声双晶纵波斜探头,其特征在于:所述探头内芯为双晶纵波斜探头结构,由参数完全相同的两个楔块对称并排布置,发射晶片和接收晶片也对称并排布置在楔块上,从各自晶片分别将信号线引至探头插座。
3.根据权利要求2所述的用于粗晶材质大曲率工件检查的超声双晶纵波斜探头,其特征在于:楔块的屋顶角θ与小径管内壁曲率的变化关系是:曲率越大,自聚焦效应越明显,同一聚焦深度的楔块屋顶角θ的数值越小,并且数值从小的数值往大的数值变化。
4.根据权利要求3所述的用于粗晶材质大曲率工件检查的超声双晶纵波斜探头,其特征在于:对于三种曲率Φ27mm,Φ44mm,Φ56mm的内壁扫查探头,双晶纵波45°斜探头的设计聚焦深度6mm时,相应的楔块屋顶角θ为-0.2°,3.1°,4.1°,曲率越大时反向补偿值越大。
5.根据权利要求2所述的用于粗晶材质大曲率工件检查的超声双晶纵波斜探头,其特征在于:在内壁周向扫查时,双晶纵波35°的折射角在声束晶片方向上能量的分布具有最优效果;周向探头在内壁扫查时探头的入射点与工件曲率中心同心并保持在一直线上。
6.根据权利要求5所述的用于粗晶材质大曲率工件检查的超声双晶纵波斜探头,其特征在于:所述楔块有两个方向的角度,这两个角度对探头的参数影响与轴向探头相同,在聚焦深度6mm时,楔块屋顶角θ按照双晶0°纵波探头的聚焦参数设计,晶片中心的间距同双晶0°纵波探头的聚焦参数一致。
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