[实用新型]用于测量泰伯效应特性的实验装置有效
| 申请号: | 201420495232.4 | 申请日: | 2014-08-29 |
| 公开(公告)号: | CN204315149U | 公开(公告)日: | 2015-05-06 |
| 发明(设计)人: | 张姝 | 申请(专利权)人: | 天津港东科技发展股份有限公司 |
| 主分类号: | G09B23/22 | 分类号: | G09B23/22 |
| 代理公司: | 天津市三利专利商标代理有限公司 12107 | 代理人: | 李文洋 |
| 地址: | 300384 天津市南开*** | 国省代码: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 测量 效应 特性 实验 装置 | ||
1.一种用于测量泰伯效应特性的实验装置,其特征在于,包括激光器、空间光调制器、CCD图像采集系统、图像采集卡以及计算机,所述激光器、空间调制器、CCD图像采集系统分别与实验导轨滑动连接,所述图像采集卡的输入端与所述CCD图像采集系统的输出信号端连接,所述图像采集卡的输出端与所述计算机的输入信号端连接。
2.根据权利要求1所述的用于测量泰伯效应特性的实验装置,其特征在于:所述空间光调制器包括起偏器、液晶光阀、检偏器以及控制电箱,所述起偏器、液晶光阀、检偏器分别与所述实验导轨滑动连接,所述起偏器与所述检偏器透光偏振方向相互垂直,所述液晶光阀与所述控制电箱连接。
3.根据权利要求1所述的用于测量泰伯效应特性的实验装置,其特征在于:所述实验导轨的长度方向设有刻度。
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