[实用新型]继电器寿命测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及电器技术领域，特别涉及一种继电器寿命测试装置。

背景技术

继电器是电器设备中常用的元件，对于继电器在工作中要进行多次的通断，所以需要对继电器的寿命进行测试。继电器寿命测试要求继电器在带负载的情况下进行通断操作，进而检测继电器的电气寿命。如图1所示，现有的继电器寿命测试装置采用每个继电器单独带负载进行测试，即一个继电器带有一路负载，例如继电器K1’配置负载L1’，继电器KN’配置负载LN’，通过施加同一个驱动信号P’使被测试继电器触点同时吸合和断开，达到自动测试继电器电气寿命的目的。其中，对于大功率继电器寿命测试，因为负载功率受限，一般工位为3-5个，不能满足多样本测试需求。

可见，目前的继电器寿命测试方案中需要每个继电器均带有一组负载，负载数量多则成本高，如果减少继电器测试数量，又不能满足测试数量的要求，总体功率大则配电要求高，发热量大则测试场地散热要求高。

实用新型内容

本实用新型旨在至少在一定程度上解决上述的技术问题之一。

为此，本实用新型需要提出一种继电器寿命测试装置，该继电器寿命测试装置，可以减少测试负载，降低成本，降低配电要求以及降低测试场地散热要求。

为达到上述目的，本实用新型提出一种继电器寿命测试装置，其中，待测继电器为N个，每个继电器均包括驱动线圈和触点，N个继电器的触点串联连接且均处于闭合状态，其中，第N继电器的触点的一端与预设电源的第一端连接，N为正整数，所述测试装置包括：负载，所述负载的一端与所述N个继电器中的第一继电器的触点的一端连接，所述负载的另一端与所述预设电源的第二端连接；控制器，所述控制器与所述每个继电器的驱动线圈分别相连，所述控制器以预设控制逻辑时序控制所述N个继电器的触点依次断开和闭合以对所述N个继电器的寿命进行测试。

根据本实用新型的继电器寿命测试装置，待测的N个继电器的触点采用串联的结构，N个继电器连接同一个负载，进而控制器通过预设逻辑控制时序控制N个继电器的触点依次断开和闭合，从而实现对N个继电器的寿命进行测试，与现有方案相比，同时测试N个继电器，负载数量仅为现有方案的1/N，负载成本有效降低；另外，同时测试N个继电器，对电网配电容量的要求仅为现有方案的1/N，大大降低了对电网配电的要求，可以在低功率负载条件下满足多工位测试需求；另外，测试同样数量的继电器，对负载散热空间的要求远小于现有方案，降低了对负载散热场地的要求。

具体地，所述控制器为PLC(Programmable Logic Controller，可编程逻辑控制器)。

另外，上述测试装置还可以包括逻辑判断装置，所述逻辑判断装置与所述控制器和所述负载分别连接，用于检测所述负载的电流波形，并判断所述负载的电流波形是否与所述控制器输出的逻辑时序信号一致。

其中，具体地，所述逻辑判断装置包括或非门电路或与非门电路。

进一步地，所述控制器包括：计数模块，所述计数模块用于记录所述每个继电器的测试次数。

本实用新型附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

本实用新型上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1为现有技术中继电器寿命测试装置的示意图；

图2为根据本实用新型的一个实施例的继电器寿命测试装置的示意图；

图3为根据本实用新型的一个具体实施例的继电器寿命测试装置的控制逻辑时序示意图；以及

图4为根据本实用新型的另一个实施例的继电器寿命测试装置的示意图。

附图标记

测试装置100，负载10和控制器20，逻辑判断装置30，计数模块201。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能解释为对本实用新型的限制。