[实用新型]一种MOSFET恒功率老化对比测试台

说明书

技术领域

本实用新型涉及到MOSFET的测试装置，具体为一种MOSFET恒功率老化对比测试台。

背景技术

MOSFET作为电力电子产品的主要控制器件，其作为开关电源既各类电力电子产品的控制执行器件，其性能的好坏直接关系着整个电子产品质量的优劣。因此如何对MOSFET的各个性能进行系统全面的测试，以便于各个厂家对质量进行有效的控制，显得极为重要。MOSFET恒功率老化对比测试台作为一种比较简单经济的测试仪器，有着极其重要的推广价值。

现有技术中，针对MOSFET的测试，相应的成熟设备比较多，MOSFET各种动态及静态参数的测试都有相应的设备，但这些设备价格都比较昂贵，作为中小型企业无相应的实力进行采购，同时，在现有技术当中，对MOSFET进行单个器件的固定功率老化及两颗MOSFET进行相同功率对比的实验也都无法进行，也没有出现相应的实验仪器，无法满足客户对单个MOSFET测试的需求，以及对两个不同品牌同一规格或相近规格的MOSFET进行对比测试的需求。

实用新型内容

针对现有技术中存在的问题，本实用新型提供一种既可以对MOSFET进行单个器件进行设定功率的老化，也可以对多颗MOSFET同时进行相同功率对比的MOSFET恒功率老化对比测试台。

本实用新型是通过以下技术方案来实现：

一种MOSFET恒功率老化对比测试台，包括若干级联设置的老化测试电路；所述的老化测试电路包括供电电源、电流设定电路、电压调整电源、反馈控制电路、EUT被测器件、电压电流显示电路、电流采样电路；供电电源的输出端分别连接电流设定电路、反馈控制电路和电压电流显示电路为其供电；反馈控制电路采用运算放大器；电流设定电路输出的信号与电流采样电路输出的信号分别接入运算放大器的正向输入端和反向输入端，运算对比后输出的电流控制信号连接到EUT被测器件的栅极；EUT被测器件的漏极连接电压调整电源；电压电流显示电路包括电压表和电流表，电压表连接在EUT被测器件的漏极和源极上，电流表连接在电压采样电路的两端，电压采集电路的一端接地，另一端的连接在EUT被测器件源极上。

优选的，电流设定电路包括依次连接在供电电源输出端的可调电阻、电位器和接地连接的分压电阻；可调电阻的动触点与供电电源的输出端连接，电位器的动触点连接到运算放大器LM358的正向输入端。

优选的，电压调整电源采用调节范围在5～50V的可调电压电源，可调电压电源的输出端依次经控制开关和保险丝与EUT被测器件的漏极连接。

优选的，运算放大器采用运算放大器LM358，运算放大器LM358的输出端连接保护电阻的一端；保护电阻的另一端连接EUT被测器件的栅极，并经过由第一电阻和第一电容串联组成的滤波电路连接EUT被测器件的漏极；EUT被测器件的源极连接运算放大器LM358的反向输入端，并通过二极管与运算放大器LM358的输出端连接，EUT被测器件与二极管的正极连接。

优选的，EUT被测器件采用TO-3P的耐高温安装座连接到老化测试电路中。

优选的，电压电流显示电路中的电压表和电流表分别连接到供电电源并接地设置。

优选的，电流采样电路由第二电阻、第三电阻、第四电阻和第五电阻组成；第二电阻和第三电阻并联后与并联的第四电阻和第五电阻串联接地。

与现有技术相比，本实用新型具有以下有益的技术效果：

本实用新型通过独立设置的供电电源和电压调整电源分别实现对EUT被测器件的电流和电压调节，从而保证了EUT被测器件功率的恒定，在电流调节中采用运算放大器实现了反馈控制；通过电流采样电路的设置，不仅能够对电压调整电源输出的电压进行分配调节，而且能够采集到漏极电流，利用电流表实现实时显示，配合漏源极电压在电压表上的实时显示，完成了对一个MOSFET的老化测试或是若干级联的老化测试电路中若干MOSFET的老化测试对比，反应不同MOSFET的性能差异，结构简单，成本低廉，使用方便，适应性强。

进一步的，通过在电流设定电路中多个串联的电阻设置，能够针对恒定的电源输入实现对输入电流的控制和调节，并且保护老化电路和EUT被测器件。

进一步的，通过电压调整电源的选用，扩大了其适用范围；利用保险丝对电路起保护作用，并利用安装座的设置更加便捷的实现了对EUT被测器件的测试。