[实用新型]一种半导体制冷器性能电脑测试专用模板有效
| 申请号: | 201420304534.9 | 申请日: | 2014-06-10 |
| 公开(公告)号: | CN203929804U | 公开(公告)日: | 2014-11-05 |
| 发明(设计)人: | 杨红;李水祥;郑美良 | 申请(专利权)人: | 浙江迈特电子有限公司 |
| 主分类号: | G01R1/02 | 分类号: | G01R1/02 |
| 代理公司: | 杭州赛科专利代理事务所 33230 | 代理人: | 余华康 |
| 地址: | 324200 *** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 半导体 制冷 性能 电脑 测试 专用 模板 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种半导体制冷器测试设备,具体地说,是一种半导体制冷器性能电脑测试专用模板。
背景技术
半导体制冷又称热电制冷或温差电制冷,是制冷技术的一个分支,它与传统的机械制冷技术互为补充,是利用特种半导体材料组成P-N晶粒,由多组P-N晶粒组合成半导体制冷器,通上直流电而使制冷器的两个端面达到制冷和制热的目的;由于半导体制冷器具有安全、环保、小型化、寿命长和使用便利等特点,国内外应用市场发展迅猛,已经广泛应用于军工、航天航空、医疗、电子技术、科研仪器、生物化学和民用产品等各个方面;在半导体制冷器生产过程中,由于材质的差异以及拉晶、切割、焊接等过程中产生的误差,即使同一型号的半导体制冷器,性能也有所不同,因此,每一片半导体制冷器都要进行性能检测,然后根据市场各类产品对半导体制冷器性能参数的要求,对半导体制冷器进行分档,在原有半导体制冷器性能测试过程中,首先要在每件器件上焊接上正、负测试引线,在专用的电脑测试仪上,接上测试夹进行性能参数检测,然后根据不同的性能参数进行分档,分档后重新取下正、负测试引线,再根据市场需求,对不同档次的器件焊接上不同长短及粗细的引线,这样做在工艺上非常繁琐,多次焊接容易影响产品质量,而且也增加了劳动力成本。
发明内容
为了解决现有测试技术中,工艺繁琐、多次焊接的缺陷,本实用新型设计提供了一种半导体制冷器性能电脑测试专用模板,无需焊接测试引线,实现了即插即测的功能。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:一种半导体制冷器性能电脑测试专用模板,其特征是:它由模板、插脚和引线组成,所述模板为长方形,在模板长边的下方,每隔一定的间距开设至少1个方口,所述方口的尺寸与所要测试的半导体制冷器外形尺寸相适应,每个方口设置两个插脚,插脚的间隔距离与半导体制冷器两端正、负极接线导流铜片的距离相适应,插脚的一端伸入方口内一定的长度,插脚的另一端接测试引线。
本实用新型提供的一种半导体制冷器性能电脑测试专用模板,结构简单,制作成本低,无需重复焊接测试引线,实现了即插即测的功能,测试速度快,对器件质量无影响,节省了劳动力成本,可提高企业利润和市场竞争力。
附图说明
图1是本实用新型一种半导体制冷器性能电脑测试专用模板结构示意图。
图2是本实用新型一种半导体制冷器性能电脑测试专用模板结构示意图的截面图。
图1、图2中:1、模板,2、插脚,3、测试引线。
具体实施方式
下面结合附图1、图2对本实用新型一种半导体制冷器性能电脑测试专用模板作进一步说明。
图1、图2所示的一种半导体制冷器性能电脑测试专用模板,由模板1、插脚2和引线3组成,所述模板为长方形,采用绝缘材料板制作,厚度与半导体制冷器厚度相当,在模板1长边的下方,每隔一定的间距开设2个—10个方口,所述方口的尺寸略大于所要测试的半导体制冷器外形尺寸,每个方口设置两个插脚2,插脚2采用具有弹性的紫铜片制作,插脚2的间隔距离与半导体制冷器两端正、负极接线导流铜片的距离相同,插脚2的一端伸入方口内一定的长度,并在头部折成一个弧形,插脚2的另一端接测试引线3,每根测试引线3与电脑测试仪上相对应的测试夹连接。
在测试应用中,首先将半导体制冷器性能测试专用模板的测试引线3与电脑测试仪上相对应的测试夹连接,电脑测试仪开机后,将半导体制冷器置入测试专用模板的方口内,并将两端正、负极接线导流铜片口插进方口内的插脚2,插脚2头部的弧形部分与正、负极接线导流铜片接触导通,即可开始测试,测试完毕后,拔下半导体制冷器即可测试下一批,无需焊接测试引线。
需要特别指出的是,上述实施例的方式仅限于描述本实施例,但本实用新型不止局限于上述方式,且本领域的技术人员据此可在不脱离本实用新型的范围内方便的进行修饰,因此本实用新型的范围应当包括本实用新型所揭示的原理和新特征的最大范围。
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