[实用新型]光谱测量装置

权利要求书

1.一种光谱测量装置，包括沿光入射方向依次设置的光学准直装置、分光器件、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统，其特征在于，所述分光器件包括透明基底，所述透明基底的至少一个表面上固着有一层金属粒子膜，所述金属粒子膜包括一组纳米至微纳米尺度的大小不等的金属粒子，所述金属粒子在金属粒子膜中呈不均匀分布，且金属粒子之间形成有一系列可容光线通过的大小不等的孔隙。

2.如权利要求1所述光谱测量装置，其特征在于，所述透明基底的厚度为微米量级。

3.如权利要求1所述光谱测量装置，其特征在于，所述金属粒子为银粒子。

4.如权利要求1所述光谱测量装置，其特征在于，所述光学准直装置包括两个共焦的透镜，以及设置于所述两个透镜的共同焦点处的小孔光阑。

5.如权利要求1所述光谱测量装置，其特征在于，所述透明基底的材质为玻璃。

6.如权利要求1所述光谱测量装置，其特征在于，所述阵列式探测芯片为CCD或CMOS阵列式探测芯片。