[发明专利]一种信息处理方法及电子设备

权利要求书

1.一种信息处理方法，其特征在于，应用于电子设备，所述电子设备包括投影模组和位姿传感器，所述位姿传感器用于检测所述电子设备的位姿信息；

所述方法包括：

判断所述电子设备是否处于投影模式，获得第一判断结果；

当所述第一判断结果表明所述电子设备处于投影模式时，获取所述位姿传感器检测到的所述电子设备的位姿信息；

根据所述位姿信息生成调整线；

获取预设的基准线；

将所述调整线与所述基准线显示在投影画面中，以辅助用户将所述调整线调整得与所述基准线重合；

其中，获取所述位姿传感器检测到的所述电子设备的位姿信息，包括：获取所述位姿传感器检测到的第一角度，所述第一角度为所述电子设备与水平面之间的夹角；获取预设的基准线，包括：将平面直角坐标系中的X轴作为基准线；根据所述位姿信息生成调整线，包括：获取初始角度，所述初始角度为所述投影模组中投影镜头与水平面之间的角度；根据所述第一角度和所述初始角度生成调整线。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基准线，还与初始角度相关，用于表征所述电子设备处于设定的位姿时而产生的作为标准的直线，其中，所述初始角度为所述投影模组中投影镜头与水平面之间的夹角。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基准线通过以下方式形成：

获取所述初始角度，其中，在所述初始角度的表示过程中，设定水平面与平面直角坐标中的X轴的正方向重合；

将所述初始角度的两条边延长，并将所述初始角度的第一条边与空间直角坐标系中的X轴重合，以及将所述初始角度的顶点与所述平面直角坐标系的原点重合；

将所述初始角度的第二条边作为基准线。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述电子设备的位姿信息用于表征所述电子设备与水平面之间的夹角；

对应地，获取所述位姿传感器检测到的所述电子设备的位姿信息，包括：获取所述位姿传感器检测到的第一角度，所述第一角度为所述电子设备与水平面之间的夹角；

对应地，所述根据所述位姿信息生成调整线，包括：

将所述第一角度的第一条边与所述平面直角坐标系中的X轴正方向重合；

将所述第一角度的顶点与所述平面直角坐标系中的原点重合；

将所述第一角度的第二条边作为所述调整线。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一角度和所述初始角度生成调整线，包括：

将所述初始角度与所述第一角度作差，得到第二角度；

将所述第二角度的两条边延长，并将所述第二角度的第一条边与平面直角坐标系中的X轴的正方向重合，以及将第二角度的顶点与所述平面直角坐标系的原点重合；

将所述第二角度的第二条边作为调整线。

6.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括投影模组和位姿传感器，所述位姿传感器用于检测所述电子设备的位姿信息；

所述电子设备包括判断单元、第一获取单元、生成单元、第二获取单元和显示单元，其中：

所述判断单元，用于判断所述电子设备是否处于投影模式，获得第一判断结果；

所述第一获取单元，用于当所述第一判断结果表明所述电子设备处于投影模式时，获取所述位姿传感器检测到的所述电子设备的位姿信息；

所述生成单元，用于根据所述位姿信息生成调整线；

所述第二获取单元，用于获取预设的基准线；

所述显示单元，用于将所述调整线与所述基准线显示在投影画面中，以辅助用户将所述调整线调整得与所述基准线重合；

其中，所述第一获取单元，用于获取所述位姿传感器检测到的第一角度，所述第一角度为所述电子设备与水平面之间的夹角；所述第二获取单元，用于将平面直角坐标系中的X轴作为基准线；所述生成单元，包括第二获取模块和生成模块，其中：所述第二获取模块，用于获取初始角度，所述初始角度为所述投影模组中投影镜头与水平面之间的角度；所述生成模块，用于根据所述第一角度和所述初始角度生成调整线。