[发明专利]一种基于ITP工具的内存轮巡检查功能测试方法

权利要求书

1.一种基于ITP工具的内存轮巡检查功能测试方法，其特征在于使用ITP工具给内存注入ECC Error注错，模拟实际应用中内存出错情况，通过读取寄存器的值模拟实际应用中系统寄存器访问内存地址，来判断内存轮巡检查功能是否成功实现；具体包括如下步骤：

（1）、准备好Windows测试平台；

（2）、准备好Windows控制端平台；

（3）、用ITP工具连接测试机和控制端平台；

（4）、测试机上电开机，进入BIOS Setup界面；

（5）、将内存轮巡检查设置为Enabled，同时设置巡检周期为1；

（6）、保存设置后退出，重启测试机，待测试机进入Windows系统；

（7）、控制端平台连接上测试机；

（8）、控制端平台系统中打开Python控制台；

（9）、Python控制台中输入指令，给某一内存的一个Rank注入单bit ECC Error；

（10）、待注错结束后，查看相应内存中的ECC Error数目增加1；

（11）、静置测试机的系统，无压力运行1小时；

（12）、在控制端平台的Python控制台里输入指令，遍历内存地址；

（13）、再输入指令，查看该内存中的ECC Error数目保持不变；

（14）、再继续反复遍历内存地址，然后查看该内存中的ECC Error数目，发现ECC Error数目保持不变。

2.根据权利要求1所述的一种基于ITP工具的内存轮巡检查功能测试方法，其特征在于步骤（1）中，在测试机上安装Windows操作系统。

3.根据权利要求1所述的一种基于ITP工具的内存轮巡检查功能测试方法，其特征在于步骤（2）中，在控制端平台上安装Windows操作系统，并安装.Netframework3.5和.Netframework4.0；在控制端平台上，安装工具Intel? Platform Debug Toolkit，并且拷贝Cscripts中的startivt_oem.py脚本。

4.根据权利要求1所述的一种基于ITP工具的内存轮巡检查功能测试方法，其特征在于步骤（3）中，测试机与控制端平台断电情况下，将ITP工具的数据线XDP接口端插在测试机的主板的XDP接口，USB口插在控制端平台的USB端口上，并插上ITP电源。

5.根据权利要求3所述的一种基于ITP工具的内存轮巡检查功能测试方法，其特征在于步骤（7）中，在控制端平台打开工具Intel? Platform Debug Toolkit中的Config Console，选择系统相应的平台后，点击Apply连接上测试机。

6.根据权利要求1所述的一种基于ITP工具的内存轮巡检查功能测试方法，其特征在于步骤（9）中，输入指令为：

#halt

#ei.injectMemError(socket=*,channel=[*,*],dimm=*,rank=*)

#go。

7.根据权利要求1所述的一种基于ITP工具的内存轮巡检查功能测试方法，其特征在于步骤（10）中，查看的输入指令为：

#halt

#ei.disp_ecc_cnt()。

8.根据权利要求1所述的一种基于ITP工具的内存轮巡检查功能测试方法，其特征在于步骤（12）中，输入指令为：

#halt

#mem(0x0,8)

#go。

9.根据权利要求1所述的一种基于ITP工具的内存轮巡检查功能测试方法，其特征在于步骤（13）中，输入指令为：

#halt

#ei.disp_ecc_cnt()。