[发明专利]一种蓝光激光器腔面制备方法有效

专利信息
申请号: 201410759265.X 申请日: 2014-12-11
公开(公告)号: CN104465901A 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: 王智勇;吕朝蕙;李军;尧舜;邱运涛;贾冠男;高祥宇;雷宇鑫 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/22;H01L33/32;H01S3/0941
代理公司: 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 代理人: 戴凤仪
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 激光器 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及激光器件加工技术领域,尤其涉及一种蓝光激光器腔面制备方法。

背景技术

目前,蓝宝石作为蓝光GaN基LED/LD的生长衬底,已被广泛而有效地使用。使用蓝宝石作为蓝光LED/LD的衬底有许多优点,首先,蓝宝石衬底的生产技术成熟,器件质量较好;其次,蓝宝石的稳定性很好,能够运用在高温生长过程中;最后,蓝宝石的机械强度高,易于处理和清洗。因此,大多数工艺一般都以蓝宝石作为衬底。

但蓝宝石衬底是不导电的绝缘材料,而且与生长层晶格不相匹配,硬度较高,因此很难切割成规则的小方块,难以通过解理形成类镜面的谐振腔。早期曾采用磨、抛的方法使其形成镜面,近期多采用干法刻蚀,但也有人尝试采用湿法刻蚀技术获得腔面。也就是,在外延生长结束后,用刻蚀方法去除蓝宝石基底,以利于腔面的解理。湿法刻蚀对腔面的损伤小,成本低,一直是人们追求的方法,目前最有效的湿法刻蚀方法是光化学辅助湿法刻蚀(PEC)。

但在外延生长结束后,对蓝宝石衬底进行湿法刻蚀时,刻蚀时间较长,并且需要较厚的GaN缓冲层,以防止外延结构崩裂或破坏,而生长较厚的GaN缓冲层耗时长,效率低,不利于批量生产。

因此,为了促进蓝宝石LED/LD的批量成产,提高生产效率,找到一种快速刻蚀以蓝宝石为衬底的芯片以方便GaN基LED/LD的解理至关重要。

发明内容

为解决上述技术问题,本发明提供一种蓝光激光器腔面制备方法,该方法可以提高以蓝宝石为衬底的芯片刻蚀效率,改善刻蚀过程外延层的蹦裂及塌边现象,有利于蓝宝石衬底上生长的GaN解理端面的形成。

本发明提供一种蓝光激光器腔面制备方法,其包括以下步骤:

步骤1,在蓝宝石衬底上方低温生长GaN缓冲层,低温的范围为450-650℃;

步骤2,在所述GaN缓冲层上通过金属有机化合物化学气相沉积法MOCVD外延生长蓝光LED/LD外延层;

步骤3,根据需求在蓝宝石衬底下方选区,选区部分利用光化学辅助湿法刻蚀法刻蚀出周期性的刻蚀槽;

步骤4,在所述蓝光LED/LD外延层上通过蒸镀工艺进行生长电极,且所述电极在外延层结构的表面上呈周期性排列,相邻电极间形成的绝缘沟道与刻蚀槽的位置相对应;

步骤5,在绝缘沟道与刻蚀槽相对应的位置进行解理,形成LD/LED管芯,腔面制备完毕。

进一步的,所述刻蚀槽尺寸为:长20um×深50um。

进一步的,步骤3中采用标准光刻工艺制备SiO2刻蚀掩膜,并用HF溶液去除SiO2

进一步的,步骤3还要对所述蓝宝石衬底的表面进行选择性腐蚀:

在所述蓝宝石衬底下方涂覆光致抗蚀剂层,通过掩膜对所述光致抗蚀剂层进行选择性曝光后,再对所述光致抗蚀剂层的已曝光部分和未曝光部分进行显影处理,则使得所述蓝宝石衬底表面形成抗蚀剂图形,完成选择性腐蚀。

有益效果:

本发明的蓝光激光器腔面制备方法,在保证外延结构不受到破坏的条件下,减小了腐蚀时间,实现了GaN基LED/LD腔面解理,提高了以蓝宝石为衬底的LED/LD生产效率。

附图说明

图1为本发明的蓝光激光器腔面制备方法制备的蓝光激光器腔面示意图。

其中,附图标记为:

蓝宝石衬底上的刻蚀槽-1

蓝宝石衬底层-2

GaN缓冲层-3

蓝光LED/LD外延层-4

电极-5。

具体实施方式

本发明采用的新型蓝光激光器腔面制备方法是:

先在蓝宝石衬底2上低温(550℃左右)生长一层GaN缓冲层3,提供成核中心,以缓解生长过程中由于晶格失配与热失配造成的应力,降低晶片的弯曲度,减少外延层缺陷的产生。

继续在GaN缓冲层3上通过MOCVD(金属有机化合物化学气相沉积法)外延生长下包层,下波导层等蓝光LED/LD外延层4。成LD/LED管芯后可以进一步对管芯进行封装形成单管器件。

外延生长结束后,在蓝宝石衬底2上利用SiO2掩膜,通过选区光化学辅助湿法刻蚀法刻蚀出一定深度、周期性的刻蚀槽。周期性的刻蚀槽一种实施例是刻蚀槽之间等间距。

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