[发明专利]利用试验数据获取单粒子效应器件敏感截面的方法及装置

权利要求书

1.一种利用试验数据获取单粒子效应器件敏感截面的方法，其特征在于，包括：

采用预定辐射源进行地面模拟实验，获取在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ_观测，并监测所述模拟实验中敏感器件的单粒子效应错误个数N_end；

将采用美国Los Alamos实验室中子辐射源获得的敏感器件敏感截面的观测值σ_LANSC与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ_观测进行除运算，得到第一辅助因子；

将采用Rosetta真实环境试验获得的敏感器件敏感截面值σ_Rosetta与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ_观测进行除运算，得到第二辅助因子；

根据所述第一辅助因子、第二辅助因子以及所述单粒子效应错误个数计算修正因子的值，具体包括：

根据敏感截面的测量精度计算模型计算精度因子a；

计算所述第一辅助因子和第二辅助因子计算的比值，得到加速因子A_β；

根据所述加速因子A_β、精度因子a以及所述单粒子效应错误个数计算修正因子A，公式如下：

根据所述修正因子的值对所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ_观测进行修正，具体为：

计算所述修正因子与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ_观测的乘积，得到大气中子单粒子效应敏感器件的敏感截面σ₀，公式如下：

σ₀＝σ_观测×A。

2.根据权利要求1所述的利用试验数据获取单粒子效应器件敏感截面的方法，其特征在于，所述将采用美国Los Alamos实验室中子辐射源获得的敏感器件敏感截面的观测值σ_LANSC与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ_观测进行除运算，得到第一辅助因子，具体包括：

获取预先设置的所述采用美国Los Alamos实验室中子辐射源获得的敏感器件敏感截面的观测值σ_LANSC；

计算所述采用美国Los Alamos实验室中子辐射源获得的敏感器件敏感截面的观测值σ_LANSC与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ_观测的比值，作为第一辅助因子。

3.根据权利要求1所述的利用试验数据获取单粒子效应器件敏感截面的方法，其特征在于，所述将采用Rosetta真实环境试验获得的敏感器件敏感截面值σ_Rosetta与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ_观测进行除运算，得到第二辅助因子，具体包括：

获取预先设置的所述采用Rosetta真实环境试验获得的敏感器件敏感截面值σ_Rosetta；

计算所述采用Rosetta真实环境试验获得的敏感器件敏感截面值σ_Rosetta与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ_观测的比值，作为第二辅助因子。

4.根据权利要求1所述的利用试验数据获取单粒子效应器件敏感截面的方法，其特征在于，所述精度因子a为1.96。