[发明专利]双晶凸面直射式横波检测用探头及设计方法

权利要求书

1.一种双晶凸面直射式横波检测用探头，其特征在于：包括探头外壳和设在探头外壳内的晶片，所述晶片相对垂直方向斜角为γ＝13°。

2.根据权利要求1所述的双晶凸面直射式横波检测用探头，其特征在于：所述探头参数为：晶片尺寸为5×5mm，探头频率为2.5MHz或5MHz。

3.一种双晶凸面直射式横波检测用探头的设计方法，其特征在于1）探头应设计为折射横波（S）声束，平行于叶根侧面，折射角为β，由此该点入射角α，求得α即可求得晶片倾角γ；

2）为获得纯横波且声束方向平行于叶根侧面，要求探头的折射角                                               为60o，探头入射角应为：47°；

    3）晶片相对垂直方向斜角为γ＝60o－47°＝13°，由于采用较小的晶片尺寸传播到工件时声束扩散，并已经产生交角，故晶片间无须再交角。